{“id”：“https://openalex.org/W2100113980“，”doi“：”https://doi.org/10.109/dftvs.2001.966778“，”title“：”VHDL描述中的Upset-like错误注入：一种方法和初步结果“，”display_name“：”在VHDL说明中的Upset-like故障注入：一个方法和初步成果“，”publication_year“：2002，”publitation_date“：”2002-11-13“，”ids“：{”openalex“：”https://openalex.org/W2100113980“，”doi“：”https://doi.org/10.1109/dftvs.2001.966778“，”mag“：”2100113980“}，”language“：”en“，”primary_location“：{”is_oa“：false，”landing_page_url“：”https://doi.org/10.109/dftvs.2001.966778“，”pdf_url“：null，”source“：null，”license“：null'，”licence_id“：null，”version“：nuller，”is_accepted“：false，”is_published“：false}，”type“：”preprint“，”type_crossref“：“procedings-article”，”indexed_in“：[”crossref“]，”open_access“：{”is_oa“：false，”oa_status“：”closed“，”oa_url发货“：[{”author_position“：”first“，”作者“：{”id“：”https://openalex.org/A5018591544“，”display_name“：”Raoul Velazco“，”orcid“：”https://orcid.org/0000-0002-0902-0783}，“机构”：[{“id”：https://openalex.org/I4210087012“，”display_name“：”集成系统体系结构的信息学和微电子技术“，”ror“：”https://ror.org/000063q30“，”“country_code”“：”FR“，”type“：”facility“，”lineage“：[”https://openalex.org/I106785703","https://openalex.org/I1294671590","https://openalex.org/I4210087012","https://openalex.org/I4210159245","https://openalex.org/I899635006“]}]，”国家“：[”FR“]，”is_corresponding“：false，”raw_author_name“：”R.Velazco“，”raw _ afiliation_strings“：[“TIMA Laboratory，Grenoble，France”]，”affiliations“：[{”raw _affiliation_string“：”TIMA Laburatory，Grnoble，Frence“，”institution_ids“：[https://openalex.org/I4210087012“]｝]｝，｛”author_position“：”middle“，”author“：｛”id“：”https://openalex.org/A5007953332“，”display_name“：”R\u00e9gis Leveugle“，”orcid“：”https://orcid.org/0000-0001-8664-412X}，“机构”：[{“id”：https://openalex.org/I4210087012“，”display_name“：”集成系统体系结构的信息学和微电子技术“，”ror“：”https://ror.org/000063q30“，”“country_code”“：”FR“，”type“：”facility“，”lineage“：[”https://openalex.org/I106785703","https://openalex.org/I1294671590","https://openalex.org/I4210087012","https://openalex.org/I4210159245","https://openalex.org/I899635006“]}]，”国家“：[”FR“]，”is_corresponding“：false，”raw_author_name“：”R.Leveugle“，”raw _ afiliation_strings“：[“TIMA Laboratory，Grenoble，France”]，”affiliations“：[{”raw _affiliation_string“：”TIMA Laburatory，Glonoble，France“，”institution_ids“：]”https://openalex.org/I4210087012“]}]}，{”author_position“：”last“，”author“：{”id“：”https://openalex.org/A5016745410“，”display_name“：”O.Calvo“，”orcid“：null}，”institutions“：[{”id“：”https://openalex.org/I50441567网址“，”display_name“：”伊利诺伊大学“，”ror“：”https://ror.org/03e10x626“，”country_code“：”ES“，”type“：“教育”，”世系“：[”https://openalex.org/I50441567网址“]}]，”国家“：[”ES“]，”is_corresponding“：false，”raw_author_name“：”O.Calvo“，”raw _affiliation_strings“：[“西班牙巴尔马岛巴利亚斯大学”]，”affiliations“：[{”raw _affiliation_string“：”西班牙巴尔马马洛卡岛巴利亚斯大学”，“institution_ids”：[“https://openalex.org/I50441567网址“]｝]｝]，”countries_destict_count“：2，”institutions_disict_count“：2，”corresponding_author_ids“：[]，”corresponding_institution_ids“：[]，”apc_list“：null，”apc_payed“：null，”fwci“：null，”has_fulltext“：true，”fulltext_origin“：”ngrams“，”cited_by_count“：15，”cited_by_percentle_year“：｛”min“：85，”max“：86｝，”biblio“：｛”volume“：null，”issue“：null，“first_page”：null，“last_page“：null}，”is_retracted“：false，”is_paratext“：fase，”primary_topic“：{”id“：”https://openalex.org/T11005“，”display_name“：”电子系统容错“，”score“：0.9998，”subfield“：{”id“：”https://openalex.org/subfields/2208“，”display_name“：”电气与电子工程“}，”字段“：{”id“：”https://openalex.org/fields/22“，”display_name“：”Engineering“}，”domain“：{”id“：”https://openalex.org/domains/3“，”display_name“：”物理科学“}}，”主题“：[{”id“：”https://openalex.org/T11005“，”display_name“：”电子系统容错“，”score“：0.9998，”subfield“：{”id“：”https://openalex.org/subfields/2208“，”display_name“：”电气与电子工程“}，”字段“：{”id“：”https://openalex.org/fields/22“，”display_name“：”Engineering“}，”domain“：{”id“：”https://openalex.org/domains/3“，”display_name“：”物理科学“}}，{”id“：”https://openalex.org/T11032“，”display_name“：”超大规模集成测试“，”score“：0.9998，”subfield“：{”id“：”https://openalex.org/subfields/1708“，”display_name“：”硬件和体系结构“}，”字段“：{”id“：”https://openalex.org/fields/17“，”display_name“：”Computer Science“}，”domain“：{”id“：”https://openalex.org/domains/3“，”display_name“：”物理科学“}}，{”id“：”https://openalex.org/T12122“，”“display_name”：“硬件安全和身份验证技术”，“score”：0.9984，“subfield”：{“id”：“https://openalex.org/subfields/1708“，”display_name“：”硬件和体系结构“}，”字段“：{”id“：”https://openalex.org/fields/17“，”display_name“：”Computer Science“}，”domain“：{”id“：”https://openalex.org/domains/3“，”display_name“：”物理科学“}}]，”关键词“：[{”id“：”https://openalex.org/keywords/singleevent-upsets（https://openalex.org/keywords/singleevent-upsets）“，”“display_name”“：”单个事件翻转“，”分数“：0.61076}，{”id“：”https://openalex.org/keywords/delay-fault测试“，”display_name“：”延迟故障测试“，”score“：0.529544}，{”id“：”https://openalex.org/keywords/transient-faults（https://openalex.org/关键字/瞬态故障）“，”display_name“：”瞬态故障“，”score“：0.511123}，{”id“：”https://openalex.org/keywords/system-on-a-chip-test“，”display_name“：”系统芯片测试“，”score“：0.501516}]，”concepts“：[{”id“：”https://openalex.org/C2778002589，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q2406791“，”display_name“：”Upset“，”level“：2，”score“：0.8672916}，{”id“：”https://openalex.org/C36941000，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q209455“，”display_name“：”VHDL“，”level“：3，”score“：0.7242953}，{”id“：”https://openalex.org/C2780073065，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q1476733“，”“display_name”“：”“单个事件不正常”“，”级别“：3，”分数“：0.665879}，{”id“：”https://openalex.org/C2775928411，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q2041312“，”display_name“：”故障注入“，”level“：3，”score“：0.65752125}，{”id“：”https://openalex.org/C41008148，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q21198“，”display_name“：”计算机科学“，”level“：0，”score“：0.6420306｝，｛”id“：”https://openalex.org/C175551986，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q47089“，”display_name“：”断层（地质）“，”level“：2，”score“：0.44230056}，{”id“：”https://openalex.org/C149635348，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q193040“，”display_name“：”嵌入式系统“，”level“：1，”score“：0.34587276}，{”id“：”https://openalex.org/C199360897，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q9143“，”display_name“：”编程语言“，”level“：1，”score“：0.28879333}，{”id“：”https://openalex.org/C42935608，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q190411“，”display_name“：”现场可编程门阵列“，”level“：2，”score“：0.2637775}，{”id“：”https://openalex.org/C9390403，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q3966“，”display_name“：”计算机硬件“，”level“：1，”score“：0.18290263}，{”id“：”https://openalex.org/C127413603，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q11023“，”display_name“：”Engineering“，”level“：0，”score“：0.15194324}，{”id“：”https://openalex.org/C2777904410，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q7397“，”display_name“：”软件“，”级别“：2，”分数“：0.133937}，{”id“：”https://openalex.org/C78519656，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q101333“，”display_name“：”机械工程“，”level“：1，”score“：0.058993638}，{”id“：”https://openalex.org/C68043766，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q267416“，”display_name“：”静态随机访问内存“，”level“：2，”score“：0.055957884}，{”id“：”https://openalex.org/C165205528，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q83371“，”display_name“：”Seismology“，”level“：1，”score“：0.0}，{”id“：”https://openalex.org/C127313418，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q1069“，”display_name“：”Geology“，”level“：0，”score“：0.0}]，”mesh“：[]，”locations_count“：3，”location“：[{”is_oa“：false，”landing_page_url“：”https://doi.org/10.109/dftvs.2001.966778“，”pdf_url“：null，”source“：null，”license“：nully，”licence_id“：null，”version“：nuller，”is_accepted“：false，”is_published“：false}，{”is_oa“：false，”landing_page_url”：“https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00008209“，”pdf_url“：空，”源“：{”id“：”https://openalex.org/S4306402512“，”display_name“：”HAL（通信科学指导中心）“，”issn_l“：null，”issn“：null，”is_oa“：true，”is-in_doaj“：false，”is_core“：false，”host_organization“：”https://openalex.org/I1294671590“，”“host_organization_name”：“国家科学研究中心”，“host_ordanization_lineage”：[“https://openalex.org/I1294671590“]，”host_organization_lineage_names“：[”Centre National de la Recherche Scientifique“]，“type”：“repository”}，“license”：null，“licence_id”：null，“version”：null，“is_accepted”：false，“is_published”：false}，{“is_oa”：false，“landing_page_url”：“https://hal.science/hal-00008209“，”pdf_url“：空，”源“：{”id“：”https://openalex.org/S4306402512“，”display_name“：”HAL（通信科学指导中心）“，”issn_l“：null，”issn“：null，”is_oa“：true，”is-in_doaj“：false，”is_core“：false，”host_organization“：”https://openalex.org/I1294671590“，”“host_organization_name”：“国家科学研究中心”，“host_ordanization_lineage”：[“https://openalex.org/I1294671590“]，”host_organization_lineage_names“：[”Centre National de la Recherche Scientifique“]，“type”：“repository”}，“license”：null，“licence_id”：null，“version”：null，“is_accepted”：false，“is_published”：false}]，“best_oa_location”：nul，“sustainable_development_goals”：[]，“grants”：[]，“datasets”：【】，“versions”：【]，“referenced_works_count”：8，“referrenced_works”：https://openalex.org/W1912583643","https://openalex.org/W1971685547","https://openalex.org/W2058241189","https://openalex.org/W2141634515","https://openalex.org/W2148156265","https://openalex.org/W2148323092","https://openalex.org/W2149394641","https://openalex.org/W2153918558“]，”related_works“：[”https://openalex.org/W764628369","https://openalex.org/W2765704306","https://openalex.org/W2359969304","https://openalex.org/W2161646799","https://openalex.org/W2128976881","https://openalex.org/W2123934961","https://openalex.org/W2102538861","https://openalex.org/W2086616086","https://openalex.org/W1540420234","https://openalex.org/W1502430142“]，”ngrams_url“：”https://api.openalex.org/works/W2100113980/ngrams网站“，”abstract_inverted_index“：{“调查”：[0]，”an“：[1]，”approach“：[2]，”allowing“：[3]，”one“：[4]，”to“：[5]，”evaluate“：[6]，”the“：[7,15,25,42]，”sequences“：[8]，”of“：[9,18,27,34,44]，”single“：[10]，”event“：[11]，”不安“：[12]，”现象“：[13]，”for“：[14]，“可靠”：[16]，“操作”：[17]，“处理器”：[19]，“方法”：[21]，“是”：[22]，“基于”：[23]，“on“：[24]，”模拟“：[26]，”比特“：[28]，”翻转“：[29]，”使用“：[30]，”a“：[31,35]，”修改“：[32]，”版本“：[33]，”高级“：[36]，”电路“：[37]，”描述。“：[38]，”初步“：[39]，”结果“：[40]，”说明“：[41]，”潜在“：[43]，”这“：[45]，”新“：[46]，”战略。“：[47]}，”cited_by_api_url“：”https://api.openalex.org/works？filter=cites:W2100113980“，”counts_by_year“：[{“year”：2015，”cited_by_count“：1}，{“年份”：2013，”cited_by_count”：1}]，”updated_date“：”2024-06-30T01:02:26.864288“，”created_date:“2016-06-24”}