{“id”：“https://openalex.org/W2150882024“，”doi“：”https://doi.org/10.109/ats.2002.1181748“，”title“：“通过排列测试向量减少I/sub DDQ/测试的测试时间”，”display_name“：”通过排列测试矢量减少I/subDDQ/检测的测试时间“，”publication_year“：2003，”publiation_date“：”2003-06-26“，”ids“：{”openalex“：”https://openalex.org/W2150882024“，”doi“：”https://doi.org/10.109/ats.2002.1181748“，”mag“：”2150882024“}，”language“：”en“，”primary_location“：{”is_oa“：false，”landing_page_url“：”https://doi.org/10.109/ats.2002.1181748“，”pdf_url“：null，”source“：null，”license“：null'，”licence_id“：null，”version“：nuller，”is_accepted“：false，”is_published“：false}，”type“：”article“，”type_crossref“：“procesdings-article”，”indexed_in“：[”crossref“]，”open_access“：{”is_oa“：false，”oa_status“：”closed“，”oa_url”：null“，”any_repository_has_fulltext“：false}”，”authorships“：[{”author_position“：”first“，”作者“：{”id“：”https://openalex.org/A5071523958“，”display_name“：”Hiroyuki Yotsuyanagi“，”orcid“：null}，”institutions“：[{”id“：”https://openalex.org/I922474255“，”display_name“：”德岛大学“，”ror“：”https://ror.org/044vy1d05“，”country_code“：”JP“，”type“：“教育”，”世系“：[”https://openalex.org/I922474255“]}]，”国家“：[”JP“]，”is_corresponding“：false，”raw_author_name“：”H.Yotsuyanagi“，”raw _ afiliation_strings“：[“日本德岛德岛大学工程学院电子电气工程系”]，”affiliations“：”日本德岛德岛大学工程学院电气与电子工程系“，“institution_ids”：[“https://openalex.org/I922474255“]}]}，{”author_position“：”middle“，”author“：{”id“：”https://openalex.org/A5052190532“，”display_name“：”Masaki Hashizume“，”orcid“：null}，”institutions“：[{”id“：”https://openalex.org/I922474255“，”display_name“：”德岛大学“，”ror“：”https://ror.org/044vy1d05“，”country_code“：”JP“，”type“：“教育”，”世系“：[”https://openalex.org/I922474255“]}]，”国家“：[”JP“]，”is_corresponding“：false，”raw_author_name“：”M.Hashizume“，”raw _ afiliation_strings“：[“日本德岛大学工程学院电气与电子工程系”]，”affiliations“：[{”raw _affiliation_string“：”日本德岛德岛大学工程学院电气与电子工程系“，“institution_ids”：[“https://openalex.org/I922474255“]}]}，{”author_position“：”last“，”author“：{”id“：”https://openalex.org/A5008535929“，”display_name“：”Takeomi Tamesada“，”orcid“：null}，”institutions“：[{”id“：”https://openalex.org/I922474255“，”display_name“：”德岛大学“，”ror“：”https://ror.org/044vy1d05“，”country_code“：”JP“，”type“：“教育”，”世系“：[”https://openalex.org/I922474255“]}]，”国家“：[”JP“]，”is_corresponding“：false，”raw_author_name“：”T.Tamesada“，”raw _ afiliation_strings“：[“日本德岛德岛大学工程学院电子电气工程系”]，”affiliations“：[{”raw _affiliation_string“：”日本德岛德岛大学工程学院电气与电子工程系“，“institution_ids”：[“https://openalex.org/I922474255“]}]}]，”countries_distinct_count“：1，”institutions_disting_count”：1，“corresponding_author_ids”：[]，”correspounding_institution_ids“：[]、”apc_list“：null，”apc_payed“：null，”fwci“：null，”has_fulltext“：true，”fulltext_origin“：”ngrams“，”cited_by_count“：{”volume“：null，”issue“：null，”first_page“：null.”last_page“：null}，”is_retracted“：false，”is_paratext“：fase，”primary_topic“：{”id“：”https://openalex.org/T11032“，”display_name“：”超大规模集成测试“，”score“：1.0，”subfield“：{”id“：”https://openalex.org/subfields/1708“，”display_name“：”硬件和体系结构“}，”字段“：{”id“：”https://openalex.org/fields/17“，”display_name“：”Computer Science“}，”domain“：{”id“：”https://openalex.org/domains/3“，”display_name“：”物理科学“}}，”主题“：[{”id“：”https://openalex.org/T11032“，”display_name“：”超大规模集成测试“，”score“：1.0，”subfield“：{”id“：”https://openalex.org/subfields/1708“，”display_name“：”硬件和体系结构“}，”字段“：{”id“：”https://openalex.org/fields/17“，”display_name“：”Computer Science“}，”domain“：{”id“：”https://openalex.org/domains/3“，”display_name“：”物理科学“}}，{”id“：”https://openalex.org/T14117“，”display_name“：”集成电路故障分析“，”score“：0.9996，”subfield“：{”id“：”https://openalex.org/subfields/2208“，”display_name“：”电气与电子工程“}，”字段“：{”id“：”https://openalex.org/fields/22“，”display_name“：”Engineering“}，”domain“：{”id“：”https://openalex.org/domains/3“，”display_name“：”物理科学“}}，{”id“：”https://openalex.org/T10363“，”display_name“：”低功耗VLSI电路设计与优化“，”score“：0.9978，”subfield“：{”id“：”https://openalex.org/subfields/2208“，”display_name“：”电气与电子工程“}，”字段“：{”id“：”https://openalex.org/fields/22“，”display_name“：”Engineering“}，”domain“：{”id“：”https://openalex.org/domains/3“，”display_name“：”物理科学“}}]，”关键词“：[{”id“：”https://openalex.org/keywords/delay-fault测试“，”display_name“：”延迟故障测试“，”score“：0.577826}，{”id“：”https://openalex.org/keywords/低功耗测试“，”display_name“：”低功耗测试“，”score“：0.539408}，{”id“：”https://openalex.org/keywords/test-data-compression网站“，”display_name“：”测试数据压缩“，”score“：0.515559}，{”id“：”https://openalex.org/keywords/scan-testing网站“，”display_name“：”扫描测试“，”score“：0.504031}]，”concepts“：[{”id“：”https://openalex.org/C29652920，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q7705757“，”display_name“：”测试压缩“，”level“：4，”score“：0.6736912}，{”id“：”https://openalex.org/C11335779，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q3454686“，”display_name“：”Reduction（mathematics）“，”level“：2，”score“：0.6158428}，{”id“：”https://openalex.org/C134146338，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q1815901“，”display_name“：”电子电路“，”level“：2，”score“：0.61127543}，{”id“：”https://openalex.org/C185798385，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q1161707“，”display_name“：”基准（测量）“，”level“：2，”score“：0.6006507｝，｛”id“：”https://openalex.org/C81409106，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q76505“，”display_name“：”组合逻辑“，”level“：3，”score“：0.5411434}，{”id“：”https://openalex.org/C17626397，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q837455“，”display_name“：”自动测试模式生成“，”level“：3，”score“：0.525902}，{”id“：”https://openalex.org/C46362747，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q173431“，”display_name“：”CMOS“，”level“：2，”score“：0.5175173｝，｛”id“：”https://openalex.org/C41008148，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q21198“，”“display_name”“：”“计算机科学”“，”级别“：0，”分数“：0.5025754}，{”id“：”https://openalex.org/C13117901，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q170451“，”display_name“：”逻辑门“，”level“：2，”score“：0.49494284}，{”id“：”https://openalex.org/C187075797，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q173245“，”display_name“：”顺序逻辑“，”level“：3，”score“：0.47014478}，{”id“：”https://openalex.org/C24326235，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q126095“，”display_name“：”电子工程“，”level“：1，”score“：0.3819226}，{”id“：”https://openalex.org/C200601418，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q2193887“，”display_name“：”可靠性工程“，”level“：1，”score“：0.346815}，{”id“：”https://openalex.org/C11413529，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q8366“，”display_name“：”Algorithm“，”level“：1，”score“：0.3321039}，{”id“：”https://openalex.org/C127413603，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q11023“，”display_name“：”Engineering“，”level“：0，”score“：0.27472883}，{”id“：”https://openalex.org/C33923547，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q395“，”display_name“：”数学“，”等级“：0，”分数“：0.19275442}，{”id“：”https://openalex.org/C119599485，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q43035“，”display_name“：”电气工程“，”level“：1，”score“：0.14140052}，{”id“：”https://openalex.org/C2524010，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q8087“，”display_name“：”Geometry“，”level“：1，”score“：0.0}，{”id“：”https://openalex.org/C13280743，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q131089“，”display_name“：”大地测量学“，”level“：1，”score“：0.0}，{”id“：”https://openalex.org/C205649164，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q1071“，”display_name“：”Geography“，”level“：0，”score“：0.0}]，”mesh“：[]，”locations_count“：1，”location“：[{”is_oa“：false，”landing_page_url“：”https://doi.org/10.1109/ats.2002.1181748“，”pdf_url“：null，”source“：null，”license“：null:”license_id“：null，”version“：nuller，”is_accepted“：false，”is_published“：false}]，”best_oa_location“：nul，”sustainable_development_goals“：[]，”grants“：[]，”datasets“：]，”versions“：[]:”，“referenced_works_count”：4，“referrenced_works”：[”https://openalex.org/W2130958087","https://openalex.org/W2143645707","https://openalex.org/W2163135232","https://openalex.org/W626647257“]，”related_works“：[”https://openalex.org/W4285708951","https://openalex.org/W4240466429","https://openalex.org/W4233954302","https://openalex.org/W2169337913","https://openalex.org/W2161696808","https://openalex.org/W2147986372","https://openalex.org/W2137555930","https://openalex.org/W2120257283","https://openalex.org/W2117563988","https://openalex.org/W2105463797“]，”ngrams_url“：”https://api.openalex.org/works/W2150882024/ngrams“，”abstract_inverted_index“：｛”In“：[0]，”this“：[1]，”论文“：[2]，”test“：[3，28，46，51，61，71]，”time“：[4，29，47，62，95]，”reduction“：[5]，”for“：[6，82112]，”I/sub“：[7，13，31，49，64]，”DDQ/“：[8，14，32，50，65]，”test“：[9，15，33]，”is“：[10，16，34，42，80]，”discussed.“：[11]，“尽管”：[12]，“已知”：[17]，“到”：[18，69，92105]，“是”：[19]，“有效”：[20]，“在”：[21，24107]，”检测“：[22]，”故障“：[23]，”CMOS“：[25]，”电路“：[26]，”逻辑“：[39101]，”测试“。“：[40]，”It“：[41]，”shown“：[43]，”most“：[52]，”depends“：[53]，”on“：[54]，”switching“：[56,76]，”current“。“：[57]，“To”：[58]，“reduce”：[59]，“testing”，“：[66]，“a”：[67,88108]，“procedure”：[68,86]，“arrange”：[70]，“vectors”：[72]，“such”：[73]，“current”：[77]，“quickly”：[78]，“imposed”：[79]，“positive”：[81]，“combinational”：[83]，“circuits”。“：[84]，“The”：[85]，“usiples”：[87]，“unit”：[89]，“delay”：[90]，“model”：[91]，“estimate”：[93]，“last”：[98]，“transition”：[99]，“values”：[102]，“from”：[103]，“low”：[104]，“high”：[106]，“circuit”。“：[109]，”实验“：[110]，”结果“：[111]，”基准“：[113]，”电路“：[114]，”显示“：[115]，”有效性“：[117]，”程序。“：[120]}，”cited_by_api_url“：”https://api.openalex.org/works？filter=cites:W2150882024“，”counts_by_year“：[]，”updated_date“：”2024-06-29T02:07:26.242298“，”created_dates“：”2016-06-24“}“