{“id”：“https://openalex.org/W1997254678“，”doi“：”https://doi.org/10.109/2.25382“，”title“：”从折叠故障集生成单一故障覆盖“，”display_name“：”根据折叠故障集创建单一故障覆盖”，”publication_year“：1989，”publitation_date“：”1989-04-01“，”ids“：{”openalex“：”https://openalex.org/W1997254678“，”doi“：”https://doi.org/10.109/2.25382“，”mag“：”1997254678“}，”language“：”en“，”primary_location“：{”is_oa“：false，”landing_page_url“：”https://doi.org/10.109/2.25382“，”pdf_url“：空，”源“：{”id“：”https://openalex.org/S178916657“，”display_name“：“计算机”，”issn_l“：”0018-9162“，”issn“：[”0018-911“，”1558-0814“]，”is_oa“：false，”is-in_doaj“：false，”is_core“：true，”host_organization“：”https://openalex.org/P4310320439“，”“host_organization_name”：“IEEE Computer Society”，“host_ordanization_lineage”：[“https://openalex.org/P4310320439","https://openalex.org/P4310318808“]，”host_organization_lineage_names“：[”IEEE Computer Society“，”Institute of Electrical and Electronics Engineers“]，“type”：“journal”}，“license”：null，“licence_id”：null，“version”：null，“is_accepted”：false，“is_published”：false}，”type“：”article“，”type_crossref“：“jordal-article”，“indexed_in”：[“crossref”]，“open_access”：{“is_oa”：false，“oa_status”closed“，”oa_url“：null，”any_repository_has_fulltext“：false}，”authorships“：[{”author_position“：”first“，”author“：{”id“：”https://openalex.org/A5005041564“，”display_name“：”M.A.Heap“，”orcid“：null}，”institutions“：[{”id“：”https://openalex.org/I86519309“，”display_name“：”奥斯汀德克萨斯大学“，”ror“：”https://ror.org/00hj54h04“，”country_code“：”US“，”type“：“教育”，”世系“：[”https://openalex.org/I86519309“]}]，”国家“：[”美国“]，”is_corresponding“：false，”raw_author_name“：”M.A.Heap“，”raw _ affiliation_strings“：[“德克萨斯大学电气与计算机工程系，奥斯汀，德克萨斯州奥斯汀”]，”affiliation“：[{”raw _affiliation_string“：”德克萨斯州奥斯丁，德克萨斯州，美国德克萨斯大学电气和计算机工程系“，”机构ID“：[”https://openalex.org/I86519309“]}]}，{”author_position“：”last“，”author“：{”id“：”https://openalex.org/A5022972512“，”display_name“：”William A.Rogers“，”orcid“：null}，”institutions“：[{”id“：”https://openalex.org/I86519309“，”display_name“：”奥斯汀德克萨斯大学“，”ror“：”https://ror.org/00hj54h04“，”country_code“：”US“，”type“：“教育”，”世系“：[”https://openalex.org/I86519309“]}]，”国家“：[”美国“]，”is_corresponding“：false，”raw_author_name“：”W.A.Rogers“，”raw_affiliation_strings“：[“德克萨斯大学电气与计算机工程系，奥斯汀，德克萨斯州奥斯汀”]，”affiliations“：[{”raw_affiliation_string“：”德克萨斯州奥斯丁，德克萨斯大学电气和计算机工程系机构ID“：[”https://openalex.org/I86519309“]}]}]，”countries_distinct_count“：1，”institutions_disting_count”：1，“corresponding_author_ids”：[]，”correspounding_institution_ids“：[]、”apc_list“：null，”apc_payed“：null，”fwci“：null，”has_fulltext“：true，”fulltext_origin“：”ngrams“，”cited_by_count“：{”卷“：”22“，”问题“：”4“，”第一页“：”51“，”last_page“：”57“}，”is_retracted“：false，”is_paratext“：fase，”primary_topic“：{”id“：”https://openalex.org/T11032“，”display_name“：”超大规模集成测试“，”score“：0.9999，”subfield“：{”id“：”https://openalex.org/subfields/1708“，”display_name“：”硬件和体系结构“}，”字段“：{”id“：”https://openalex.org/fields/17“，”display_name“：”Computer Science“}，”domain“：{”id“：”https://openalex.org/domains/3“，”display_name“：”物理科学“}}，”主题“：[{”id“：”https://openalex.org/T11032“，”display_name“：”超大规模集成测试“，”score“：0.9999，”subfield“：{”id“：”https://openalex.org/subfields/1708“，”display_name“：”硬件和体系结构“}，”字段“：{”id“：”https://openalex.org/fields/17“，”display_name“：”Computer Science“}，”domain“：{”id“：”https://openalex.org/domains/3“，”display_name“：”物理科学“}}，{”id“：”https://openalex.org/T14117“，”display_name“：”集成电路故障分析“，”score“：0.999，”subfield“：{”id“：”https://openalex.org/subfields/2208“，”display_name“：”电气与电子工程“}，”字段“：{”id“：”https://openalex.org/fields/22“，”display_name“：”Engineering“}，”domain“：{”id“：”https://openalex.org/domains/3“，”display_name“：”物理科学“}}，{”id“：”https://openalex.org/T11005“，”display_name“：”电子系统容错“，”score“：0.9983，”subfield“：{”id“：”https://openalex.org/subfields/2208“，”display_name“：”电气与电子工程“}，”字段“：{”id“：”https://openalex.org/fields/22“，”display_name“：”Engineering“}，”domain“：{”id“：”https://openalex.org/domains/3“，”display_name“：”Physical Sciences“｝｝]，”keywords“：[｛”id“：”https://openalex.org/keywords/transient-faults（https://openalex.org/关键字/瞬态故障）“，”display_name“：”瞬态故障“，”score“：0.536814｝，｛”id“：”https://openalex.org/keywords/fault-localization网站“，”display_name“：”故障定位“，”score“：0.5285｝，｛”id“：”https://openalex.org/keywords/fault-tolerance“，”display_name“：”容错“，”score“：0.525777}，{”id“：”https://openalex.org/keywords/soft-errors网站“，”display_name“：”软错误“，”score“：0.512651}，{”id“：”https://openalex.org/keywords/delay-fault测试“，”display_name“：”延迟故障测试“，”score“：0.508944}]，”concepts“：[{”id“：”https://openalex.org/C41008148，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q21198“，”display_name“：”计算机科学“，”level“：0，”score“：0.71072656}，{”id“：”https://openalex.org/C126953365，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q5438152“，”display_name“：”故障覆盖率“，”level“：3，”score“：0.6969436}，{”id“：”https://openalex.org/C167391956，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q1401211“，”display_name“：”故障模型“，”level“：3，”score“：0.5958784}，{”id“：”https://openalex.org/C175551986，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q47089“，”display_name“：”断层（地质）“，”level“：2，”score“：0.5529822}，{”id“：”https://openalex.org/C2780069185，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q7977945“，”display_name“：”等价（形式语言）“，”level“：2，”score“：0.54963446}，{”id“：”https://openalex.org/C177264268，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q1514741“，”display_name“：”Set（abstract data type）“，”level“：2，”score“：0.5281758}，{”id“：”https://openalex.org/C13625343，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q7627418“，”display_name“：”Stuck-at fault“，”level“：4，”score“：0.5260575}，{”id“：”https://openalex.org/C11413529，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q8366“，”display_name“：”Algorithm“，”level“：1，”score“：0.52346575}，{”id“：”https://openalex.org/C185798385，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q1161707“，”display_name“：”基准（测量）“，”level“：2，”score“：0.49696997}，{”id“：”https://openalex.org/C2779960059，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q7113681“，”display_name“：”开销（工程）“，”level“：2，”score“：0.4671696}，{”id“：”https://openalex.org/C173608175，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q232661“，”display_name“：”并行计算“，”level“：1，”score“：0.39008734}，{”id“：”https://openalex.org/C113775141，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q428691“，”display_name“：”计算机工程“，”level“：1，”score“：0.37325743}，{”id“：”https://openalex.org/C152745839，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q5438153“，”display_name“：”故障检测与隔离“，”level“：3，”score“：0.3645851}，{”id“：”https://openalex.org/C79403827，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q3988“，”display_name“：”实时计算“，”level“：1，”score“：0.3221267}，{”id“：”https://openalex.org/C134146338，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q1815901“，”display_name“：”电子电路“，”level“：2，”score“：0.16354874}，{”id“：”https://openalex.org/C33923547，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q395“，”display_name“：”数学“，”等级“：0，”分数“：0.14692971}，{”id“：”https://openalex.org/C154945302，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q11660“，”display_name“：”人工智能“，”level“：1，”score“：0.113891184}，{”id“：”https://openalex.org/C111919701，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q9135“，”display_name“：”操作系统“，”level“：1，”score“：0.10288349}，{”id“：”https://openalex.org/C127413603，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q11023“，”display_name“：”Engineering“，”level“：0，”score“：0.10141903}，{”id“：”https://openalex.org/C199360897，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q9143“，”display_name“：”编程语言“，”level“：1，”score“：0.09940687}，{”id“：”https://openalex.org/C118615104，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q121416“，”display_name“：”离散数学“，”level“：1，”score“：0.08906922}，{”id“：”https://openalex.org/C119599485，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q43035“，”display_name“：”电气工程“，”level“：1，”score“：0.061552525}，{”id“：”https://openalex.org/C13280743，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q131089网址“，”display_name“：”大地测量学“，”level“：1，”score“：0.0}，{”id“：”https://openalex.org/C165205528，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q83371“，”display_name“：”Seismology“，”level“：1，”score“：0.0}，{”id“：”https://openalex.org/C127313418，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q1069“，”display_name“：”地质“，”等级“：0，”分数“：0.0}，{”id“：”https://openalex.org/C205649164，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q1071“，”display_name“：”地理“，”级别“：0，”分数“：0.0}，{”id“：”https://openalex.org/C172707124，“wikidata”：https://www.wikidata.org/wiki/Q423488“，”display_name“：”促动器“，”level“：2，”score“：0.0}]，”mesh“：[]，”locations_count“：1，”location“：[{”is_oa“：false，”landing_page_url“：”https://doi.org/10.109/2.25382“，”pdf_url“：空，”源“：{”id“：”https://openalex.org/S178916657“，”display_name“：“计算机”，”issn_l“：”0018-9162“，”issn“：[”0018-911“，”1558-0814“]，”is_oa“：false，”is-in_doaj“：false，”is_core“：true，”host_organization“：”https://openalex.org/P4310320439“，”“host_organization_name”：“IEEE Computer Society”，“host_ordanization_lineage”：[“https://openalex.org/P4310320439","https://openalex.org/P4310318808“]，”host_organization_lineage_names“：[”IEEE Computer Society“，”Institute of Electrical and Electronics Engineers“]，“type”：“journal”}，“license”：null，“licence_id”：null，“version”：null，“is_accepted”：false，“is_published”：false}]，“best_oa_location”：nul，“sustainable_development_goals”：[]，“grant:[]，”datasets“：[]”，“versions”：[[]，“referenced_works_count“：9，”referenced_works“：[”https://openalex.org/W19218582215","https://openalex.org/W1969474413","https://openalex.org/W1988192422","https://openalex.org/W2077489863","https://openalex.org/W2089209814","https://openalex.org/W2126693329","https://openalex.org/W4236231374","https://openalex.org/W4244274599","https://openalex.org/W4252197513“]，”related_works“：[”https://openalex.org/W4256030018","https://openalex.org/W3150960233","https://openalex.org/W3148663848","https://openalex.org/W2474604829","https://openalex.org/W2278517150","https://openalex.org/W2147400189","https://openalex.org/W2061946964","https://openalex.org/W2051500795","https://openalex.org/W2024194466","https://openalex.org/W1986800855“]，”ngrams_url“：”https://api.openalex.org/works/W997254678/ngrams“，”“abstract_inverted_index”：{“Fault”：[0]，“simulators”：[1]，“do”：[2]，“not”：[3,55]，“simulate”：[4]，“all”：[5]，“the”：[6,13,18,41,56,70,74,96]，“single”：%7]，“stick”：[8]，“faults”：[9]，“（SSF），”：[10]，“because”：[11]，“as”：[12,58,73]，“smulated”：[14]，[15,86116]，“set”：[16]，“grows”：[17]，“increase”：[19]，“in”：[20]，“their”：[21]，“runtime”：[22,97]，“和“：[23,45,61,98120]，“内存”：[24,99]，“要求”：[25]，“是”：[26,32,48,54,81]，“大于”：[27]，“小于”：[28]，“线性。“：[29]，”Fault-set“：[30]，”size“：[31]，”reduced“：[33]，”or“：[34]，”collapsed“：[35]，”during“：[36]，”circuit“：[37]，”prepartization“：[38]，”by“：[39127]，”using“：[40]，”conceptions“：[42]，”of“：[43101]，”equivalence“：[44119]，”支配。“：[46]，”It“：[47]，”shown“：[49]，”that“：[50,62,83]，”collapsed-fault“：[51]，”（CF）“：[52]，”coverage“：[53,60,75,87]，”same“：[57]，”SSF“：[59]，”this“：[63]，”difference“：[64]，”has“：65]，”a“：[66,91]，”large“：[67]，”effect“：[68]，”on“：[69]，”defect“：]，“等级”：[72]，“接近”：[76]，“100%。“：[77]，“A”：[78]，“非常低的开销”：[79]，“技术”：[80110]，“呈现”：[82]，“计算”：[84]，“真”：[85]，“while”：[88]，“模拟”：[89102]，“with”：[00103]，“CF”：/92]，“set”，“：[93]，“there”：[94]，“retaining”：[95]，“savings”：[100]，“CFR”：%104]，“无”：[105]，“牺牲”：[106]，“fault-coverage”：[107]，“准确性。“：[108]，”This“：[109]，”can“：[111]，”be“：[112]，”applied“：[113]，”to“：[114]，”any“：[115]，”model“：[117]，”exhibiting“：[118]，”支配“：[121]，”properties。“：[122]，”The“：[123]，”results“：[124]，”are“：[125]，”confirmated“：[126]，”benchmark“：[128]，”results“<":[129],">“：[132]}，”cited_by_api_url“：”https://api.openalex.org/works？filter=cites:W1997254678“，”counts_by_year“：[]，”updated_date“：”2024-06-26T00:28:31.385803“，”created_date“：”2016-06-24“｝