{“状态”：“确定”，“消息类型”：“工作”，“信息版本”：“1.0.0”，“邮件”：{“索引”：{“日期-部件”：[[2023,9,8]]，“日期-时间”：“2023-09-08T16:50:52Z”，“时间戳”：1694191852335}，“引用-计数”：51，“发布者”：“计算机协会（ACM）”，“问题”：“3”，“内容-域”：{:“域”：[“dl.ACM.org”]，“交叉标记限制“：true}，“short-container-title”：[“ACM Trans.Reconfigurable Technol.Syst.”]，“published-print”：{“date-parts”：[[2021,9,30]]}，“abstract”：在当前的工作中，我们研究了商用16-nm FPGA中逻辑、互连和算术DSP资源的过程可变性。我们为评估中的每个不同资源创建多个软宏传感器，并在FPGA结构上部署它们以测量径内变化，以及在多个FPGA上部署它们来测量径间变化。导出的结果用于创建设备签名可变性图，以表征整个模具的可变性分布。我们的研究包括将变异性解耦到系统和随机部分，探索不同电压和温度条件下的变异性，以及不同资源变异性图之间的相关性分析。此外，我们仔细检查了可变性对实际测试电路性能的影响，并将检索到的结果与基于传感器的映射相关联。我们在四款Zynq XCZU7EV FPGA上的实验结果显示，芯片内和芯片间的变异性显著，分别高达7.8%和8.9%，在某些操作条件下略有增加。相关性分析表明逻辑和算术资源之间存在很强的相关性，而互连在特定设备中的相关性略弱。最后，由于测试电路的操作行为与我们的传感器不同，计算出了变异图与测试电路性能之间相对适度的相关性<\/jats:p>“，”DOI“：”10.1145\/3458843“，”type“：”journal-article“，”created“：{”date-parts“：[[2021,8,12]，”date-time“：”2021-08-12T14:51:22Z“，”timestamp“：1628779882000}，”page“：“1-30”，”update-policy“：标题“：[”16-nm FinFET 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J.D.Meindl.1999。外部和内部参数变化对CMOS系统芯片性能的影响。第十二届IEEE国际ASIC\/SOC年会论文集。IEEE，267\u2013271。K.A.Bowman、汤星海、J.C.Eble和J.D.Meindl。1999.外部和内部参数变化对CMOS系统芯片性能的影响。第十二届IEEE国际ASIC\/SOC年会论文集。IEEE，267\u2013271.“}，{”key“：”e_1_1_8_1“，”doi-asserted-by“：”publisher“，“doi”：“10.5555\/1870926.1871361”}，“key”：“e_1_i_1_9_1”，“doi-assert-by”：“publisher”，”doi“：”10.5555\/996070.109954“}”，{“key“:”e_2_1_10_1“.2006.311193“}，{”键“：”e_1_2_1_11_1“，”卷时间“：”超大规模集成电路技术研讨会论文集。技术论文摘要。IEEE，38\u201339“，“作者”：“蒋廷炎”，“非结构化”：“姜廷炎，B.Shieh和K.C.Saraswat。2002.焦耳加热对深亚微米Cu\/低k互连结垢的影响。超大规模集成电路技术研讨会论文集。技术论文摘要。IEEE，38\u201339。蒋廷彦、B.Shieh和K.C.Saraswat。2002.焦耳加热对深亚微米Cu\/低k互连结垢的影响。超大规模集成电路技术研讨会论文集。技术论文摘要。IEEE，38\u201339.”｝，｛“key”：“e_1_2_1_12_1”，“doi由”断言：“publisher”，“doi”：“10.1109\/TVLSI.2004.840765”｝，｛“key”：“e_1_2_1_13_1”，“volume title”：“超大规模集成电路研讨会论文集。IEEE，169\u2013170”，“author”：“Frank D.J.”，“year”：“1999”，“nonstructured”：“D.J.Frank，Y.Taur，M.Ieong，and H.S.P。王。1999 . 掺杂剂涨落引起的阈值变化的蒙特卡罗模拟。超大规模集成电路研讨会论文集。IEEE，169\u2013170。D.J.Frank、Y.Taur、M.Leeong和H.S.P.Wong。1999.由于掺杂剂波动引起的阈值变化的蒙特卡罗建模。超大规模集成电路研讨会论文集。IEEE，169\u2013170.“}，{“key”：“e_1_2_1_14_1”，“volume-title”：“现场可编程技术国际会议论文集（FPT\u201916）”，“作者”：“Gnad Dennis R.e.”，“非结构化”：“Dennis R e.Gnad，Fabian Oboril，Saman Kiamehr，and Mehdi B.Tahoori.2016。FPGA中瞬态电压波动的分析。《现场可编程技术国际会议论文集》（FPT\u201916）。电气与电子工程师协会。Dennis R.E.Gnad、Fabian Oboril、Saman Kiamehr和Mehdi B.Tahoori，2016年。FPGA中瞬态电压波动的分析。《现场可编程技术国际会议论文集》（FPT\u201916）。IEEE标准。“}，{”key“：”e_1_1_15_1“，”doi-asserted-by“：”publisher“，“doi”：“10.1109\/FPT.2013.6718362”}，}，“key”：“e_2_1_16_1”，“volume-title”：“现场可编程逻辑与应用国际会议论文集（FPL\u201912）”，“author”：“Guan Zhenzyu”，“unstructured”：“Zhenyu Guan，Justin S.J。Wong、Sumanta Chaudhuri、George Constantinides和Peter Y.K.Cheung。2012.FPGA的两阶段变量软件放置方法，利用变量图分类。《现场可编程逻辑与应用国际会议论文集》（FPL\u201912）。IEEE，519\u2013522。关振宇（Zhenyu Guan）、贾斯汀·S·J·王（Justin S.J.Wong）、苏门塔·乔杜里（Sumanta Chaudhuri）、乔治·康斯坦丁尼德斯（George Constantinides）和彼得·张永凯（Peter Y。2012.FPGA的两阶段变量软件放置方法，利用变量图分类。《现场可编程逻辑与应用国际会议论文集》（FPL\u201912）。IEEE，519\u2013522.“}，{”key“：”e_1_2_1_17_1“，”unstructured“：”ITRS.2011。国际半导体技术路线图。检索自http://www.itrs2.net\/2011-itrs.html。ITRS公司。2011年，国际半导体技术路线图。检索自http://www.itrs2.net\/2011-itrs.html。“}，{”key“：”e_1_2_1_18_1“，”非结构化“：”ITRS.2015。半导体国际技术路线图。检索自http://www.itrs2.net\/its-reports.html。ITRS公司。2015年，国际半导体技术路线图。检索自http://www.itrs2.net\/its-reports.html。“}，{”key“：”e_1_1_19_1“，”doi-asserted-by“：”publisher“，“doi”：“10.1145\/309847.310072”}，“key”：“e_1_cu1_20_1”，“doi-assert-by”：“publisher”，”doi“：”10.5555\/517902“}”，{“key“:”e_2_1_21_1““e_1_2_1_22_1”，“doi-asserted-by”：“publisher”，”doi“：”10.1109\/TCSII.2006.882218“}，{“key”：“e_1_2_1_23_1“，”doi-asserted-by“：”publisher“，“doi”：“10.1145\/157485.164970”}，{“key”：“e_1_i_1_24_1”，“doi-assert-by”：“publisher”，”doi“：”10.1109\/TNS.2018.2885713“}，”{“密钥”：“e_1_2_1_25_1”、“doi-sserted-by”:“publisher”，“doi:”10.1109\/ICCD.2007.4601924“}26_1“，”doi-asserted-by“：”publisher“，“doi”：“10.1016\/j.microrel.2016.07.128”}，{“key“：”e_1_2_1_27_1“，”doi断言“：”publisher“，”doi“：”10.1109\/TEST.2010.5699248“}，{”key“：”e_1_1_28_1“，”doi断言“：”publisher“，”doi“：”10.1109\/TC.2019.2898833“}，{”key“：”e_1_1_29_1“，”doi断言“：”publisher“，”doi“：”10.1145\/319454.3194569“}，{”key“：”e_1_1_30_1“，”doi断言by“：”publisher“，”doi“：”10.1109\/FPL.2019.00016“｝，｛”key“：”e_1_2_1_31_1“，”doi断言者“：”publisher“，”doi“：”10.1145\/33792.337370“｝，｛”key“：”e_1_1_32_1“，”doi断言者“：”publisher“，”doi“：”10.1145\/2871167“｝，｛”key“：”e_1_1_33_1“，”doi断言者“，”doi“：”10.1109\/JSSC.2009.2022217“｝，｛”key“：”e_1_34_1“，”doi断言者“：”publisher”，“doi”：“10.1109\/TEST.204.7035343”｝，｛“key”：“e_1_2_1_35_1“，”doi-asserted-by“：”publisher“，“doi”：“10.1109\/MDT.2010.50”}，{“key”：“e_1_i_1_36_1”，“doi-assert-by”：“publisher”，”doi“：”10.1109\/4.52187“}，”{“密钥”：“e_1_2_1_37_1”、“doi-sserted-by”:“publishers”，“doi:”10.1109\/12.166“}”，{”key“：”e_2__1_38_1“”，“volume-title”：“”《现场可编程技术国际会议论文集》（FPT\u201906），“作者”：“Sedcole 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