{“状态”：“确定”，“消息类型”：“工作”，“信息版本”：“1.0.0”，“邮件”：{“索引”：{“日期-部件”：[[2023,1,6]]，“日期-时间”：“2023-01-06T10:48:02Z”，“时间戳”：1673002082032}，“参考-计数”：19，“出版商”：“IEEE”，“许可证”：[{“开始”：{-“日期-零件”：[[2021,5,17]]，”日期-时间“：“2021-05-17T00:00:00Z”，“timestamp”：1621209600000}，“content-version”：“vor”，“delay-in-days”：0，“URL”：“https:\/\/ieeexplore.iee.org\/Xplorehelp\/downloads\/license-information\/ieee.html”}，{“start”：{“date-parts”：[2021,5,17]]，“date-time”：“2021-05-17T00:00:00Z”，“timestamp”：1621209600000}，“content-version”：“stm-asf”，“delay-in-days“：0，”URL“https:\\/doi.org\/10.15223 \/policy-029“}，{“开始”：{“日期部分”：[[2021,5,17]]，“date-time”：“2021-05-17T00:00:00Z”，“timestamp”：1621209600000}，“content-version”：“stm-asf”，“delay-in-days”：0，“URL”：“https:\/\/doi.org\/10.15223\/policy-037”}]，“content-domain”：{“domain”:[]，“crossmark-restriction”：false}，”short-container-title“：[]，”published-print“：{”date-parts“：[2021,5,17]}，“doi”：“10.1109\/i2mtc50364.2021.945990”，“类型”：“procesdings-article”，“created”：{“date-parts”：[[2021,6,28]]，“date-time”：“2021-06-28T22:17:46Z”，“timestamp”：1624918666000}，“source”：“Crossref”，“is-referenced-by-count”：2，“title”：[“基于卷积神经网络和门控递归单元网络的模拟电路双输入故障诊断模型”]，“prefix”：“10.1109”，”author“：[{”given：“天宇”，“家族”：“高”，“序列”：“第一个”，“从属关系”：[]}，{“给定”：“净力”，“家庭”：“阳”，“顺序”：“附加”，“隶属关系”：[]}、{“已知”：“首达”，“家人”：“江”，“次序”：“额外”，“附属关系”：【】}，}“给定的”：“成”，“家”：“杨”，“序号”：“新增”，“归属关系”：〔〕}，“成员”：“263”，“reference”：[{“key”：“ref10”，“doi-asserted-by”：“publisher”，“doi”：“10.1109\/TIM.2009.2025068”}，{“key”：“ref11”，“doo-asserted-by”：”publisher“，”doi“：”10.1007\/s10470-018-1362-7“}，“key“：”ref12“，”doi-assert-by“：”publicher“，”doi“：doi“：”10.1016\/j.neucom.2020.04.113“}，{”key“：”ref14“，”doi-asserted-by“：“publisher”，“DOI”：“10.1109\/ACCESS.2018.2888950”}，{“key”：“ref15”，“DOI-asserted-by”：“publicher”，“DOI”：”10.3390\/sym110228“}，}”key“：”ref16“，”DOI-assert-by“：”publisher“，”DOI“：”10.1016\/j.measurement.202.044“}/ACCESS.2018.2823765“}，{”key“：”ref18“，”DOI-asserted-by“：”publisher“，”DOI“：“10.1109\/CACCESS.2020.2968744”}，{“key”：“ref19”，“doi-asserted-by”：“publisher”，“doi”：“10.1016\/j.future.2018.12.009”}作者：“李”，“年份”：“2014”，“期刊标题”：“IEEE仪器与测量汇刊”}，｛“key”：“ref3”，“doi断言”：“publisher”，“doi”：“10.1109\/TIM.2017.275438”｝，｛“key”：“ref6”，“文章标题”：“一种基于GMKL-SVM和小波融合特征的模拟电路早期故障诊断新方法”，“volume”：“70”，“author”：“gao”，“year”：“2020”，“期刊标题”：“IEEE仪器与测量事务”}，{“key”：“ref5”，“doi-asserted-by”：“publisher”，“doi”：“10.1109\/ACCESS.2020.2982246”}“：”ref2“，”doi-asserted-by“：”publisher“，”doi“：“10.1109\/TIM.2018.2836058”}，{“key”：“ref9”，“doi-asserted-by”：“publisher”，“doi”：“10.1063\/1.4944976”}部分”：[[2021,5,17]]}，“end”：{“date-parts”：[[2021,5,20]]}}，“container-title”：[“2021 IEEE国际仪器仪表和测量技术会议（I2MTC）”]，“原始标题”：[]，“链接”：[{“URL”：“http://\explorestaging.IEEE.org\/ielx7\/9459717\/9459990.pdf？arnumber=9459990”，“内容类型”：“未指定”，“content-version”：“vor”，“intended-application”“”：“相似性检查”}]，“存放”：{“日期部分”：[[2022,5,10]]，“日期时间”：“2022-05-10T15:42:54Z”，“时间戳”：1652197374000}，“分数”：1，“资源”：{“主要”：}“URL”：“https:\/\/ieeexplore.ieee.org\/document\/945990\/”}}，”副标题“：[]，”短标题“：[]，”已发布“：{”日期部分“：[2021,5,17]]}，“references-count”：19，“URL”：“http://\/dx.doi.org\/10.109\/i2mtc50364.2021.945990”，“关系”：{}，“主题”：[]，“发布”：{“日期部分”：[2021,5,17]]}}