{“状态”：“确定”，“消息类型”：“工作”，“信息版本”：“1.0.0”，“邮件”：{“索引”：{-“日期部分”：[[2023,5,12]，“日期时间”：“2023-05-12T21:29:26Z”，“时间戳”：1683926966807}，“引用-计数”：8，“发布者”：“IEEE”，“内容域”：{“域”：[]，“交叉标记-限制”：false}，”短容器-时间“：[]”，“发布-打印”：{“日期部分”：[[2012,12]}，“DOI”：“10.1109\/apccas.2012.6419088”，“type”：“proceedings-article”，“created”：{“date-parts”：[[2013,1,30]]，“date-time”：“2013-01-30T22:53:42Z”，“timestamp”：1359586422000}，“source”：”Crossref“，”is-referenced-by-count“：2，”title“：[”低功率应用的温度补偿当前参考“]，”前缀“10.1109”，“author”：[{“给定”：“嘉兴”，“家庭”：“刘”，“序列”：“第一”，“从属关系”：[]}，{“给定”：“姚”，“家族”：“王”，“顺序”：“附加”，“隶属关系”：[]}{“key”：“3”，“doi-asserted-by”：“publisher”，“DOI”：“10.1109\/ESSCIRC.2010.5619819”}，{“key”：“2”，“DOI-asserted-by”：“publisher”，“DOI:”10.1109\/4.597305“}，”{“密钥”：“1”，“首页”：“224”，“文章标题”：“基于弱反转固态电路操作的Cmos模拟集成电路”，“卷”：“12”，“作者”：“vittoz”，“年份”：“1977”，“日志标题”：“7”，“doi-asserted-by”：“publisher”，“doi”：“10.1109 \/ICSENS.2005.1597922”}，{“key”：“6”，“doo-asserted-by”：”publisher“，”doi“：”10.1109 \/TCAD.1987.1270305“}，}”key“：”5“，”article-title“：”电路和系统中阈下MOS LSI中PTAT电流产生的浮动毫伏参考，2007。ISCAS 2007，“作者”：“ueno”，“年份”：“2007”，“日志标题”：“IEEE国际研讨会”}，{“key”：“4”，“doi-asserted-by”：“publisher”，“doi”：“10.1109 \/4.974548”}、{“key”：”8“，“作者“：”razavi“，”年份“：”2000“，”日志标题“：”模拟CMOS集成电路设计“}]，“事件”：{“名称”：“APCCAS 2012-2012 IEEE亚太电路与系统会议”，“地点”：“台湾高雄”，“开始”：{“date-parts”：[[2012,12,2]}，“结束”：{“date-parts”：[2012,12,5]]}，”container-title“：[”2012 IEEE亚太线路与系统会议“]，“原始标题”：[]，“链接”：[{“URL”：“http://\/xplorestaging.ieee.org\/ielx5\/6412846\/6418954\/06419088.pdf？arnumber=6419088“，”content-type“：”unspecified“，”content-version“：”vor“，”intended-application“：”similarity-checking“}]，”deposed“：{”date-parts“：[[2017,3,21]]，”date-time“：“2017-03-21T20:41:39Z”，”timestamp“：1490128899000}，”score“：1，”resource“：”{“primary”：{“URL”：“http://ieeexplore.iee.org\/document\/6419088\/”}}，“副标题”：[]，“短标题”：[]，“发布“：{“date-parts”：[[2012,12]]}，“references-count”：8，“URL”：“http://\/dx.doi.org\/10.109\/apccas.2012.6419088”，“relationship”：{}，”subject“：[]，”published“：{date-part”：[2012,12]]{}}