{“状态”：“确定”，“消息类型”：“工作”，“信息版本”：“1.0.0”，“邮件”：{“索引”：{-“日期部分”：[[2024,9,10]]，“日期时间”：“2024-09-10T02:45:11Z”，“时间戳”：1725936311115}，“发布者位置”：“新加坡”，“引用计数”：8，“出版者”：“Springer Singapore”，“isbn-type”：[{“类型”：”print“，“值”：“9789811074691”}，{“类型”：“电子”，“值”：“9789811074707”}]，“license”：[{“start”：{“date-parts”：[[2017,1,1]]，“date-time”：“2017-01-01T00:00:00Z”，“timestamp”：148322880000}，“content-version”：“unspecified”，“delay-in-days”：0，“URL”：“http://www.springer.com\/tdm”}]}，“short-container-title”：[]，“published-print”：{“date-parts”：[[2017]]}，“DOI”：“10.1007\/978-981-10-7470-7_18”，“type”：“book-chapter”，“created”：{”date-part“：[[2017，12,20]]，“date-time”：“2017-12-20T18:17:13Z”，“timestamp”：1513793833000}，”page“：”168-178“，”update-policy“：“http://\/dx.DOI.org\/10007\/springer_crossmark_policy”，“source”：“Crossref”，“is-referenced-by-count”：1，“title”：[“Pseudo-BIST：SAR-ADC测试的新技术”]，“prefix”：“10.1007”，“author”：[{“given”：“Yatharth”，“family”：“Gupta”，“sequence”：“first”，“affiliation”：[]}，{“给定”：“Sujay”，“家庭”：“Deb”，“序列”：“additional”，“从属关系”：[]}，“：”V.N.“，”family“：”Srinivasan“、“sequence”：“additional”，“affiliation”：[]}，{“given”：“Manish”，“family”：“Sharma”，“sequences”：“附加”，“从属”：[]}，}“giving”：“Sabyasachi”，“家族”：“Das”，“序列”：“额外”，“隶属”：[[]}]，“成员”：“297”，“在线发布”：{“date-parts”：[2017,12,21]]}、“reference”：[{“volume-title”：“模拟集成电路s“，”年份“：”1997“，”作者“：“D John”、“key”：“18_CR1”，“unstructured”：“John，D.，Martin，K.：模拟集成电路。Wiley，New York（1997）”}，{“key“：”18_CR2“，”doi-asserted-by“：”crossref“，”unstructure“：”Poehl，F.等人：高度集成手机SoC的生产测试挑战。摘自：IEEE欧洲测试研讨会论文集，第17\u201322页（2010）“，”doi“：“10.1109\/ETSYM.2010.5512786”}，{“issue”：“3”，“key”：“18_CR3”，”doi-asserted-by“：”crossref“，“first page”：”373“，”doi“：”10.1109\/19.293454“，”volume“：”43“，”author“：”J Blair“，”year“1994”，“unstructured”：“Blair，J.：使用正弦波测量ADC非线性的直方图。IEEE Trans.Instr.Meass 43（3），373\u2013383（1994）”，“新闻标题”：“IEEE Trans.Instr.Meas”}，{“key”：“18_CR4”，“doi-asserted-by”：“crossref”，“unstructured”：“Zagursky，V.，Gertners，A.：嵌入式ADC的测试技术。In:IEEE亚太电路与系统、微电子与集成系统会议，APCCAS 1998，会议记录（目录号98EX242），清迈，pp.775\u2013778（1998）”，“doi”：“10.1109\/APCCAS.1998.743936”}，{“key”：“18_CR5”，“doi-asserted-by”：“crossref”，“unstructured”：“Goyal，S.，et al.：通过选择性代码测量减少逐次逼近寄存器A/D转换器的测试时间。In:IEEE国际测试会议，德克萨斯州奥斯汀，pp.8，225（2005）”，“doi”：“10.109\/Test.2005.1583979”}，“doi-asserted-by”：“crossref”，“unstructured”：“Stratigopoulos，H.G.，Barragan，M.J.，Mir，S.，Le Gall，H.，Bhargava，N.，Bal，A.，《长模拟时间电路的低成本混合信号测试技术评估》。摘自：2015 IEEE国际测试会议（ITC），加利福尼亚州阿纳海姆，pp.1\u20137（2015）”，“doi”：“10.1109\/test.2015.7342385”}，{“key”：“18_CR7”，“doi-asserted-by”：“crossref”，“unstructured”：“Huang，X.L.，et al.：嵌入式逐次逼近寄存器ADC的自检和校准方法。摘自：第16届亚洲及南太平洋设计自动化会议（ASP-DAC 2011），横滨，pp.713\u2013718（2011）”，“doi”：“10.1109\/ASPDAC.2011.5722279”}，{“issue”：“3”，“key”：“18-CR8”，“doi-asserted-by”：“crossref”，“first page”：“1001”，“doi”：“10.1109\/19.744658”，“volume”：”47“，“author”：“P Carbone”，“year”：“1998”，“unstructured”：“Carbone，P.，Petri，D.：ADC直方图测试的噪声敏感性。IEEE Trans.Instr.Meas 47（3），1001\u20131004（1998）”，“journal-title”：“IEEE Trans Instr.Meas”}]，“containertitle”：[“计算机与信息科学通信”，“VLSI设计与测试”]，“原始标题”：[]，“链接”：[{“URL”：“http://\/link.springer.com/content\/pdf\/10.1007\/978-981-10-7470-7_18”，“内容类型”：“未指定”，“content-version”：“vor”，“intended-application”：“相似性检查”}]，“存放”：{“日期段”：[2019,10,8]]，“日期-时间”：“2019-10-08T10:01:54Z”，“timestamp”：1570528914000}，“score”：1，“resource”：{“primary”：{“URL”：“http://\/link.springer.com/10.1007\/978-981-10-7470-7_18”}}，”subtitle“：[]，”shorttitle“：[]，”issued“：{”date-parts“：[2017]}，‘ISBN’：[”9789811074691“，”978981 1074707“]，”references-count“：8，“URL”：“http://\/dx.doi.org\/10.1007\/978-981-10-7470-7_18”，“关系”：{}，“ISSN”：[“1865-0929”，“1865-0837”]，“ISSN-type”：[{“type”:“print”，“value”：“1865-029”}，{“type”：“electronic”，“value”：“865-0937”}]，“subject”：【】，“published”：{“date-parts”：【2017】}}