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为简单线性剖面开发基于损失的功能过程能力指数。 (英语) Zbl 07497824号

摘要:简单线性轮廓(SLP)的过程能力已经通过功能过程能力指数(\(C_p(轮廓)\)和\(C_{pk}(轮廓)\)来衡量,这些指数无法区分目标上和目标外的过程。因此,在本文中,我们使用函数方法为简单线性剖面开发了传统的基于损耗的索引。这些新指数基于田口损失函数,能够充分反映过程平均值与目标值的偏差。通过仿真研究,研究了所提指标和现有指标的性能。仿真结果表明,在较小的平均绝对误差(MAE)和均方误差(MSE)度量方面,所提出的方法优于现有的函数指标。此外,还引入了一种程序来确定用于估计建议指数的最小剖面样本数。此外,还为所提出的指数构造了自举置信区间。最后,通过一个实际案例说明了所提指标的应用。

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62至XX 统计
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全文: 内政部

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