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李嘉璐;田玉斌;王殿鹏

基于Arrhenius模型的电子设备故障机理的变点检测。 （英语） Zbl 1481.62116号

申请。数学。建模 83, 46-58 (2020).
摘要：本文考虑了电子器件加速寿命试验中的突变点和连续突变点失效机制，并基于威布尔分布和阿伦尼乌斯模型提出了相应的检测方法。新方法可以处理截尾数据和小样本情况下的失效机制突变点检测。进行了全面的仿真研究，以测试所提方法的性能，并研究了变化位置、参数和截尾比的影响。仿真研究结果表明，所提方法在I型误差和功率方面表现良好，与改变位置和删失比相比，参数的改变对新方法的性能影响更大。最后，我们提供了两个真实的示例。新的H类绝缘实例表明，所提出的方法可以通过检测变化点来合理地预测可靠性，而金属氧化物半导体晶体管实例表明，新方法可以大大缩短实验时间，并提供准确的可靠性预测。

引用于三文件

MSC公司：

第62页 统计学在工程和工业中的应用；控制图
62号03 生存分析和审查数据中的测试

关键词：

加速寿命试验;阿伦尼斯模型;变点分析;失效机制;信息准则;威布尔分布

软件：

斯普林达
PDF格式BibTeX公司 XML格式引用
\textit{J.Li}等人，应用。数学。模型83，46-58（2020；Zbl 1481.62116）
全文： 内政部

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