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于博罗迪纳。对。;博罗丁，P.A。

在元件输出端存在0类恒定故障的情况下，在Zhegalkin基础上合成易于测试的电路。 （英语。俄文原件） Zbl 1201.94149号

离散数学。申请。 20，第4期，441-449（2010）; 从Diskretn翻译。材料22，第3号，127-133（2010年）。
总结：提出了在任意布尔函数的Zhegalkin基上合成易于测试的功能元件电路的方法。假设故障是元件输出端的0类恒定故障。事实证明，任何布尔函数都可以通过允许长度为1的完整测试的电路实现。

引用于14文件

MSC公司：

94立方厘米 交换理论，布尔代数的应用；布尔函数（MSC2010）
PDF格式BibTeX公司 XML格式引用
\textit{Yu.V.Borodina}和\textit{P.A.Borodin}，离散数学。申请。20，第4号，441--449（2010；Zbl 1201.94149）；从Diskretn翻译。材料22，第3号，127--133（2010年）
全文： DOI程序

参考文献：

[1] 马特·沃普尔·亚布隆斯基。基伯恩。第5页-（1988年）
[2] Reddy S.M.，IEEE翻译。计算机21第124页–（1972）
[3] Yu V，莫斯科计算机大学。数学。赛博。第32页第42页–（2008年）·Zbl 1146.93327号 ·文件编号：10.3103/s11968-008-1006-5
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