Carnicer，J.M。;上帝，C。 具有缺陷三的配置的几何特征。 （英语） Zbl 1131.65008号 Cohen，Albert（编辑）等人，《曲线和曲面拟合》。阿维尼翁2006。2006年6月29日至7月5日，法国阿维尼翁，第六届曲线和曲面国际会议论文集。布伦特伍德：纳什博罗出版社（ISBN 978-0-9728482-8-2/hbk）。《现代数学方法》，61-70（2007）。 摘要：几何特征（GC），由介绍K.C.Chung公司和T.H.姚【SIAM J.《数值分析》第14卷，第735–743页（1977年；Zbl 0367.65003号)]，刻画节点集的特征，使得拉格朗日多项式是一阶因子的乘积。为了对GC集进行分类，引入了配置的缺陷。对缺陷集0、1和2进行了完整描述。我们给出了缺陷3的所有GC集的完整描述，以及一些似乎对分析缺陷更高的GC集有用的技术。关于整个系列，请参见[Zbl 1112.65002号]. 引用于7文件 MSC公司： 65D05型 数值插值 41A05型 近似理论中的插值 引文：Zbl 0367.65003号 PDF格式BibTeX公司 XML格式引用 \textit{J.M.Carnicer}和\textit{C.Godés}，in：曲线和曲面拟合。阿维尼翁2006。2006年6月29日至7月5日，法国阿维尼翁，第六届曲线和曲面国际会议论文集。布伦特伍德：纳什博罗出版社。61-70（2007年；兹比尔1131.65008）