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西吉奥·阿基;Katuomi Hirano

连续（k）取（n）：F系统的寿命分布和估计问题。 （英语） Zbl 0857.62094号

Ann.Inst.Stat.数学。 48，第1期，185-199（1996）.
摘要：给出了连续-\（k\）-out-of-\（n\）：\（F\）系统寿命分布的一个显式公式。它是（n）元件寿命顺序统计分布的线性组合。我们假设寿命是独立的，并且是一致分布的。结果应使基于对系统寿命的观察来处理参数估计问题成为可能。事实上，我们以组件的寿命服从指数分布、Weibull分布和Pareto分布的情况为例，通过矩方法获得了可行的估计。特别地，在渐近效率接近1的意义下，证明了矩估计对于指数情形是相当好的。

引用于10文件

MSC公司：

62号05 可靠性和寿命测试
60公里30 排队论的应用（拥塞、分配、存储、流量等）
60K25码 排队论（概率论方面）

关键词：

显式公式;连续-\（k\）-out-of-\（n:F\）系统;可靠性;故障时间;阶离散分布;指数分布;威布尔分布;寿命分布;顺序统计量分布的线性组合;帕累托分布;力矩估计器;渐近效率
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\textit{S.Aki}和\textit{K.Hirano}，安.Inst.Stat.数学。48，第1号，185--199（1996；Zbl 0857.62094）
全文： DOI程序

参考文献：

[1] Aki，S.（1985）。二进制序列上k阶的离散分布，Ann.Inst.Statist。数学。，37, 205-224. ·Zbl 0577.62013年 ·doi:10.1007/BF02481092
[2] Aki，S.和Hirano，K.（1988年）。k阶二项分布的一些特征及相关分布，统计理论与数据分析II；《第二届太平洋地区统计会议记录》（编辑：K.Matusita），211-222，阿姆斯特丹北霍兰德·Zbl 0738.60007号
[3] Aki，S.和Hirano，K.（1989年）。k阶离散分布的参数估计，Ann.Inst.Statist。数学。，41, 47-61. ·Zbl 0693.62031号 ·doi:10.1007/BF00057739
[4] Aki，S.和Hirano，K.（1993年）。二状态马尔可夫链中与连续事件相关的离散分布，统计科学和数据分析；第三届太平洋地区统计会议记录（编辑：K.Matusita、M.L.Puri和T.Hayakawa），467-474，乌得勒支VSP·Zbl 0855.60070号
[5] Barlow，R.E.和Proschan，F.（1981年）。可靠性和寿命测试的统计理论，首先，马里兰州银泉。
[6] Bollinger，R.C.和Salvia，A.A.（1985年）。连续k取n：F系统的连续故障，IEEE可靠性事务，R-34，43-45·Zbl 0576.60085号 ·doi:10.1109/TR.1985.5221923
[7] Chao，M.T.、Fu，J.C.和Koutras，M.V.（1995年）。连续k取n：F和相关系统可靠性研究调查，IEEE可靠性汇刊，40，120-127·doi:10.1109/24.376531
[8] Chen，R.W.和Hwang，F.K.（1985）。连续k取n：F系统的故障分布，IEEE可靠性事务，R-34，338-341·Zbl 0588.62181号 ·doi:10.1109/TR.1985.5222180
[9] David，H.A.（1981年）。订单统计，第二版，威利，纽约·Zbl 0553.62046号
[10] Derman，C.、Lieberman，G.J.和Ross，S.M.（1982年）。关于连续k-of-n:F系统，IEEE可靠性事务，R-31，57-63·Zbl 0478.90029号 ·doi:10.1109/TR.1982.5221229
[11] Hirano，K.（1986年）。阶分布的一些性质，斐波那契数及其应用（编辑A.N.Philippou，G.E.Bergum和A.F.Horadam），43-53，Reidel，Dordrecht。
[12] Hirano，K.（1994年）。连续k取n：F系统，程序。仪器统计。数学。，42，45-61（日语）。
[13] Hirano，K.和Aki，S.（1993年）。关于两状态马尔可夫链中指定长度的成功运行次数，统计Sinica，3313-320·Zbl 0822.60061号
[14] Hwang，F.K.（1986）。连续k取n：F系统的简化可靠性，SIAM J.代数离散方法，7258-264·兹比尔0606.90055 ·doi:10.1137/0607029
[15] Hwang，F.K.（1991）。连续k-out-of-n:F系统中最小p-cut序列数的显式解，IEEE可靠性事务，R-40，553-554·Zbl 0746.90026号 ·数字对象标识代码：10.1109/24.106775
[16] Iyer，S.（1990年）。连续k取n：F系统的失效时间分布，IEEE可靠性事务，R-39，97-101·Zbl 0702.62098号 ·doi:10.1109/24.52618
[17] Iyer，S.（1992年）。连续k-within-m-out-of-n:F系统的寿命分布，IEEE可靠性事务，R-41，448-450·Zbl 0755.60069号 ·数字对象标识代码：10.1109/24.159818
[18] Johnson，N.L.、Kotz，S.和Kemp，A.W.（1992年）。单变量离散分布，第2版，威利，纽约·Zbl 0773.62007号
[19] 兰比里斯，M.和帕帕斯塔夫里迪斯，S.（1985）。线性和圆形连续k取n：F系统的精确可靠性公式，IEEE可靠性汇刊，R-34，124-126·Zbl 0564.62084号 ·doi:10.1109/TR.1985.5221969
[20] Philippou，A.N.（1986）《k阶分布和斐波那契多项式，N中取k的连续系统的最长运行和可靠性，斐波那奇数及其应用》（编辑A.N.Philippoo，G.E.Bergum和A.F.Horadam），203-227，Reidel，Dordrecht·Zbl 0602.60023号
[21] Riordan，J.（1958年）。《组合分析导论》，纽约威利出版社·Zbl 0078.00805号
[22] Serfling，R.J.（1980）。《数理统计近似定理》，威利，纽约·Zbl 0538.62002号
[23] Shantikumar，J.G.（1985）。具有可交换寿命的n中取k的连续F系统的寿命分布，IEEE可靠性汇刊，R-34，480-483·Zbl 0588.62180号 ·doi:10.1109/TR.1985.5222236
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