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一种假设检验程序,用于评估具有毛刺XII分布的产品在渐进式i型区间删失下的寿命性能指标。 (英语) Zbl 07550159号

摘要:评估制造业或服务业产品的寿命性能是当今一个非常重要的主题。寿命性能指数(C_L)用于测量大批量质量特性,以评估工艺性能,以提高质量和生产率。假设产品的生命周期具有Burr XII分布。基于递增型I区间删失样本,使用最大似然估计估计寿命性能指标。还得到了该估计量的渐近分布。我们使用该估计量构建了关于较低规格极限的新假设检验算法过程。最后,给出了两个实例来说明如何使用该测试算法程序来确定该过程是否可行。

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第60页 统计学在工程和工业中的应用;控制图
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全文: 内政部

参考文献:

[1] Aggarwala,R.,《累进区间删失:应用于推理的一些数学结果》,2001年。统计学中的传播——理论和方法,2001年30月,1921-1935年·Zbl 0991.62079号
[2] Balakrishnan,N。;Cramer,E.,2014年。渐进审查的艺术。可靠性和质量的应用,波士顿:Birkhäuser,波士顿·Zbl 1365.62001号
[3] Balakrishnan,N。;Aggarwala,R.,2000年。《渐进式审查:理论、方法和应用》,波士顿:博克豪斯,波士顿
[4] 卡塞拉,G。;Berger,R.L.,2002年。统计推断,加利福尼亚州,美国:达克斯伯里出版社,加利福尼亚州
[5] 盖尔,M.H。;Gastwirth,J.L.,基于基尼统计的指数分布的无标度良好性检验,1978年。英国皇家统计学会杂志,B辑(方法学),40,350-357·兹比尔0412.62026
[6] 约翰逊,L.N。;科茨,S。;Balakrishan,N.,1994年。连续单变量分布,1,纽约:威利,纽约·Zbl 0811.62001号
[7] 劳曼,B。;Cramer,E.,累进II型审查下寿命性能指数的似然推断,2015年。经济质量控制,30,2,59-73·Zbl 1390.62197号
[8] Lee,W.C。;吴建伟。;Hong,C.W.,在逐步II型右删失样本下评估指数分布产品的寿命性能指数,2009年。计算与应用数学杂志,231648-656·Zbl 1172.90003号
[9] Lee,W.C。;吴建伟。;Hong,C.W.,使用Burr XII模型从逐步II型右删失数据评估产品的寿命性能指数,2009年。模拟中的数学和计算机,79,7,2167-2179·Zbl 1158.90339号
[10] 蒙哥马利,哥伦比亚特区,1985年。统计质量控制导论,纽约:John Wiley&Sons,纽约
[11] 桑吉尔,D。;Balakrishnan,N.,基于逐步删失数据的指数分布良好性检验的拉盖尔多项式近似,2008年。统计计算与模拟杂志,78,503-513·Zbl 1274.62125号
[12] Tong,L.I。;Chen,K.S。;陈洪涛,评估指数分布电子元件寿命指数性能的统计测试,2002。国际质量与可靠性管理杂志,19,7,812-824
[13] Wang,F.K。;济慈,J.B。;Zimmer,W.J.,带删失和未删失数据的Burr-XII参数的最大似然估计,1995年。微电子可靠性,36,2,359-362
[14] Wingo,D.R.,将Burr XII型分布拟合到寿命试验数据的最大似然方法,1983年。生物识别杂志,25,77-84·Zbl 0524.62031号
[15] 吴建伟。;Lee,W.C。;Hong,C.W。;Yeh,S.Y.,使用逐步II型右删失样本实施Burr XII产品的寿命性能指数,2014年。国际创新计算、信息和控制杂志,10,671-693
[16] 吴建伟。;Lee,W.C。;Lin,L.S。;Hong,M.L.,基于逐步II型右删失样本的指数产品寿命性能指数的贝叶斯检验,2011年。定量管理杂志,8,57-77
[17] Wu,S.F.,累进删失下双参数指数分布的区间估计,2010。质量和数量,44,181-189
[18] Wu,S.F。;Lin,Y.P.,渐进式I型区间删失下单参数指数分布产品寿命性能指标评估的计算测试算法程序,2016。模拟中的数学和计算机,120,79-90·Zbl 07313606号
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