田志伟;石燕燕;王蒙;孔小龙;李磊;傅凤 成像电导率分布的小波框架约束总广义变分模型。 (英文) Zbl 1494.78011号 反向探测。成像 16,第4期,753-769(2022).MSC公司:第78页第46页 78A45型 92 C55 78M30型 78M10个 65N21型 65N20型 65J20型 35B65毫米 35兰特 35兰特 60年第35季度 PDF格式BibTeX公司 XML格式引用 \textit{Z.Tian}等人,反问题。成像16,编号4,753-769(2022;Zbl 1494.78011) 全文: 内政部
史密尔,丹尼;Kim-Niklas安亭;刘栋(Liu,Dong);斯文·博叙伊 非均匀正交异性复合材料结构的耦合数字图像相关和准静态弹性成像。 (英文) Zbl 1408.74027号 反向探测。 34,第12号,文章ID 124005,20 p.(2018).MSC公司:74G75型 74S30型 65千5 PDF格式BibTeX公司 XML格式引用 \textit{D.Smyl}等人,《逆概率》。34,第12号,文章ID 124005,20 p.(2018;Zbl 1408.74027) 全文: 内政部 链接
梅洛迪·阿尔萨克;莎拉·简·汉密尔顿;安德烈亚斯·豪普特曼 具有先验信息的部分边界数据电阻抗层析成像的直接D-bar方法。 (英文) Zbl 1360.65265号 反向探测。成像 第3期第11期,第427-454页(2017年).MSC公司:65N21型 94A08型 PDF格式BibTeX公司 XML格式引用 \textit{M.Alsaker}等人,反问题。成像11,第3期,427--454(2017;Zbl 1360.65265) 全文: 内政部 OA许可证
安德烈亚斯·豪普特曼;马特奥·桑塔塞萨里亚;萨穆利省锡塔宁 电阻抗层析成像中部分边界数据的直接反演。 (英文) Zbl 1515.35347号 反向探测。 33,第2号,文章ID 025009,26 p.(2017).MSC公司:35兰特 第78页第46页 PDF格式BibTeX公司 XML格式引用 \textit{A.Hauptmann}等人,《反问题》。33,第2号,文章ID 025009,第26页(2017年;Zbl 1515.35347) 全文: 内政部 arXiv公司 链接