×

关于介质散射反问题的数值解。 (英语) Zbl 1532.35523号

小结:本文研究了通过散射场测量确定穿透散射体位置和形状的逆介质散射问题。我们研究了一种采样指示函数,用于快速稳健地恢复散射目标。该指示函数的灵活性在于,它适用于近场或远场测量的数据。该函数的实现很简单,不涉及解决任何不适定问题。利用远场算子的因式分解分析和Funk-Hecke公式研究了指示函数的分辨率分析和稳定性估计。通过仿真和实验数据验证了该方法的性能。

MSC公司:

35立方厘米 PDE的反问题
35卢比 积分-部分微分方程
65立方米 含偏微分方程初值和初边值问题反问题的数值方法
65兰特 积分方程的数值方法
PDF格式BibTeX公司 XML格式引用

参考文献:

[1] 阿金奇,M。;Cayoren,M。;Akduman,I.,《微波成像的近场正交采样方法:理论和实验验证》,IEEE Trans。微型。理论技术,642489(2016)·doi:10.1010/TMTT.2016.25855488
[2] Audibert,L.,Haddar,H.:线性采样方法的广义公式,根据远场测量准确表征目标。反问题30,035 011(2014)·Zbl 1291.35377号
[3] 白俄罗斯,K。;Saillard,M.,专题:根据实验数据测试反演算法,反问题,17,6,1565-1571(2001)·Zbl 1002.78514号 ·doi:10.1088/0266-5611/17/6/301
[4] 卡科尼,F。;科尔顿,D。;Haddar,H.,《逆散射理论和传输特征值》(2016),宾夕法尼亚州费城:SIAM,宾夕法尼亚州,费城·Zbl 1366.35001号 ·doi:10.1137/1.9781611974461
[5] 卡科尼,F。;科尔顿,D。;Monk,P.,《逆电磁散射中的线性采样方法》(2011),宾夕法尼亚州费城:SIAM,宾夕法尼亚州,费城·Zbl 1221.78001号 ·数字对象标识代码:10.1137/1.9780898719406
[6] 科尔顿,D。;Coyle,J。;Monk,P.,《逆声散射理论的最新发展》,SIAM Rev.,42,396-414(2000)·Zbl 0960.76081号 ·doi:10.1137/S0036144500367337
[7] 科尔顿,D。;Kirsch,A.,求解共振区逆散射问题的简单方法,逆问题,12383-393(1996)·Zbl 0859.35133号 ·doi:10.1088/0266-5611/12/4/003
[8] 科尔顿,D。;Kress,R.,《逆声和电磁散射理论》(2013),纽约:Springer,纽约·Zbl 1266.35121号 ·doi:10.1007/978-1-4614-4942-3
[9] Griesmaier,R.:逆障碍物散射问题的多频正交采样。反问题27,085 005(2011)·Zbl 1222.78025号
[10] Harris,I.,Kleefeld,A.:远场测量新直接采样指标的分析。反问题35,054 002(2019)·Zbl 1419.65098号
[11] 哈里斯,I。;Nguyen,DL,电磁逆散射问题的正交采样方法,SIAM J.Sci。计算。,42,B722-B737(2020)·Zbl 1442.35545号 ·doi:10.1137/19M129783X
[12] 哈里斯,I。;Nguyen,DL;Nguyen,TP,具有点源测量的各向同性和各向异性散射体的直接采样方法,逆问题。成像,16,5,1137-1162(2022)·兹比尔1497.35515 ·doi:10.3934/ipi.2022015年
[13] Ikehata,M.,《通过边界测量重建夹杂物形状》,Commun。第部分。微分方程,231459-1474(1998)·Zbl 0915.35114号 ·doi:10.1080/03605309808821390
[14] Ito,K.,Jin,B.,Zou,J.:反介质散射问题的直接采样方法。反问题28,025003(2012)·兹比尔1241.78025
[15] Ito,K.,Jin,B.,Zou,J.:反电磁介质散射的直接采样方法。反问题29,095018(2013)·Zbl 1290.78008号
[16] Kang,S.,Lambert,M.:三维电磁反演问题中直接采样方法的结构分析:近场和远场配置。反问题37,075 002(2021)·Zbl 1494.78010号
[17] Kang,S.,Lambert,M.,Park,W.K.:成像小介质不均匀性的直接采样方法:分析和改进。反问题34,095005(2018)·Zbl 1436.94010号
[18] Kirsch,A.,利用远场算子的光谱数据表征散射障碍物的形状,反问题,14,1489-1512(1998)·Zbl 0919.35147号 ·doi:10.1088/0266-5611/14/6/009
[19] Kirsch,A.,Grinberg,N.:反问题的因式分解方法。牛津数学及其应用系列讲座36。牛津大学出版社(2008)·Zbl 1222.35001号
[20] Le,T.,Nguyen,D.L.,Schmidt,H.,Truong,T.:使用正交采样方法用实验数据对3D物体进行成像。反问题38,025007(2022)·Zbl 1480.78012号
[21] Lechleiter,A。;Nguyen,DL,《TM光栅散射中体积积分方程的三角Galerkin方法》,高级计算。数学。,40, 1-25 (2014) ·Zbl 1304.78010号 ·doi:10.1007/s10444-013-9295-2
[22] Liu,X.:一种从固定频率的散射振幅对多个多尺度目标进行采样的新方法。反问题33,085011(2017)·Zbl 1382.65367号
[23] Nguyen,D.L.:双各向异性介质的直接和反向电磁散射问题。反问题35,124001(2019)·Zbl 1435.78013号
[24] Park,WK,检索完美导电小裂纹的直接取样方法,J.Compute。物理。,373, 648-661 (2018) ·Zbl 1416.78011号 ·doi:10.1016/j.jp.2018.07.014
[25] Potthast,R.,求解逆散射问题的快速新方法,逆问题,12731-742(1996)·Zbl 0870.35126号 ·doi:10.1088/0266-5611/12/5/014
[26] Potthast,R.,《反问题采样和探测方法的调查》,《逆问题》,22,R1-R47(2006)·Zbl 1094.35144号 ·doi:10.1088/0266-5611/22/2/R01
[27] Potthast,R.:正交抽样的研究。反问题26,074 015(2010)·Zbl 1194.35509号
[28] Vanska,S.,逆散射问题的驻波方法,逆问题。成像,2577-586(2008)·Zbl 1177.78026号 ·doi:10.3934/ipi.2008.2.577
此参考列表基于出版商或数字数学图书馆提供的信息。其项与zbMATH标识符进行启发式匹配,可能包含数据转换错误。在某些情况下,zbMATH Open的数据对这些数据进行了补充/增强。这试图尽可能准确地反映原始论文中列出的参考文献,而不要求完整或完全匹配。