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儿子Seong-Ho;李光宰;Won-Kwang公园 直接采样方法在实际微波成像中的应用与分析。 (英语) Zbl 1426.78026号 申请。数学。莱特。 96, 47-53 (2019).MSC公司:78A50型 78A45型 78A40型 33立方厘米 94甲12 PDF格式BibTeX公司 XML格式引用 \textit{S.-H.Son}等人,应用。数学。莱特。96、47-53(2019年;Zbl 1426.78026) 全文: 内政部 arXiv公司
元光公园 横向电极化直接采样方法的改进。 (英语) Zbl 1410.78015号 申请。数学。莱特。 88, 209-215 (2019).MSC公司:78A45型 78M25型 78A40型 33立方厘米 35J05型 PDF格式BibTeX公司 XML格式引用 \textit{W.-K.Park},应用程序。数学。莱特。88、209--215(2019;Zbl 1410.78015) 全文: 内政部
元光公园 在横向极化中通过直接采样方法检测小的不均匀性。 (英语) Zbl 1460.78012号 申请。数学。莱特。 79, 169-175 (2018).MSC公司:78A46型 78A45型 78M50型 35C20美元 35J05型 33立方厘米 62D05型 92 C55 PDF格式BibTeX公司 XML格式引用 \textit{W.-K.Park},应用程序。数学。莱特。79、169--175(2018;Zbl 1460.78012) 全文: 内政部 arXiv公司
元光公园 用于恢复小的完美导电裂纹的直接取样方法。 (英语) Zbl 1416.78011号 J.计算。物理学。 373, 648-661 (2018).MSC公司:78A45型 78M25型 78M35型 65Z05个 PDF格式BibTeX公司 XML格式引用 \textit{W.-K.Park},J.计算。物理学。373648-661(2018;Zbl 1416.78011) 全文: 内政部 arXiv公司
康桑宇;马克·兰伯特;元光公园 成像小介质不均匀性的直接采样方法:分析和改进。 (英语) 兹比尔1436.94010 反向探测。 34,第9号,文章ID 095005,18 p.(2018).MSC公司:94A08型 65平方英寸21 35J05型 第35页 PDF格式BibTeX公司 XML格式引用 \textit{S.Kang}等人,反问题。34,第9号,文章ID 095005,18 p.(2018;Zbl 1436.94010) 全文: 内政部 arXiv公司
Won-Kwang公园 散射参数异常成像的直接采样方法。 (英语) 兹比尔1387.94021 申请。数学。莱特。 81, 63-71 (2018).MSC公司:94A08型 94A20型 78A45型 PDF格式BibTeX公司 XML格式引用 \textit{W.-K.Park},应用程序。数学。莱特。81、63-71(2018年;Zbl 1387.94021) 全文: 内政部 arXiv公司
元光公园 解释MUSIC,用于随机散射体周围小不均匀性的位置检测。 (英语) Zbl 1400.78013号 数学。问题。工程师。 2016年,文章ID 7872548,12 p.(2016).MSC公司:78A45型 PDF格式BibTeX公司 XML格式引用 \textit{W.-K.Park},数学。问题。Eng.2016,文章ID 7872548,12 p.(2016;Zbl 1400.78013) 全文: 内政部 arXiv公司