周坤;吴，毛S。 用图像法研究各向同性薄膜基底中边缘位错引起的弹性场。 （英语） Zbl 1397.74143号 机械学报。 211，编号3-4，271-292（2010）. 小结：利用图像位错法导出了线弹性各向同性薄膜基底中由边缘位错引起的应力场和位移场。该方法的主要特点是：（1）先满足界面条件的分解方案，（2）从控制方程中消除所有奇异积分，（3）以级数形式获得弹性场，其项可以通过积分变换精确计算，（4）这些解仅用级数的三项即可令人满意地收敛。结果表明，薄膜厚度和位错位置对作用在位错上的成象力有显著影响，位错积累引起的薄膜厚度变化可能会降低光学薄膜的性能。 引用于13文件 MSC公司： 74K35型 薄膜 74G10型 固体力学平衡问题解的解析近似（摄动法、渐近法、级数等） PDF格式BibTeX公司 XML格式引用 \textit{K.Zhou}和\textit{M.S.Wu}，机械学报。211，编号3-4-271-292（2010年；兹bl 1397.74143） 全文： 内政部 参考文献： [1] Freund L.B.、Suresh S.：薄膜材料。剑桥大学出版社，剑桥（2003）·Zbl 1152.74301号 [2] Narayan J.，Oktyabsky S.：薄膜异质结构中失配位错的形成。J.应用。物理学。92, 7122–7127 (2002) ·doi:10.1063/1.1521789 [3] Wang C.-M.，Thevuthasan S.，Gao F.，McCready D.E.，Chambers S.A.：{（α）}Al2 O3（0001）上外延{（alpha）}Fe2 O3的界面错配位错特征。稀溶液。电影414、31–38（2002）·doi:10.1016/S0040-6090（02）00452-2 [4] Groh S.、Devincre B.、Kubin L.P.、Roos A.、Feyel F.、Chaboche J.-L.：异质外延金属薄膜中的位错和弹性各向异性。菲尔·马格·莱特。83, 303–313 (2003) ·doi:10.1080/9500083032000069249 [5] 王斌，吴春晖，孙琦，于天祥：外延压电薄膜中位错产生的临界厚度。Phil.Mag.1，3753–3764（2003）·doi:10.1080/1478640310001600196 [6] Head A.K.：位错和边界的相互作用。Phil.Mag.44、92–94（1953年） [7] Chou Y.T.：层状包裹体及其附近的螺旋位错。物理学。统计解决方案。17, 509–516 (1966) ·doi:10.1002/pssb.19660170206 [8] 科勒J.S.：尝试设计一种坚固的固体。物理学。版本B 2，547–551（1970）·doi:10.1103/PhysRevB.2.547 [9] Kamat S.V.，Hirth J.P.：多层结构中螺旋位错的成像力。Scr.公司。金属。21, 1587–1592 (1987) ·doi:10.1016/0036-9748（87）90306-1 [10] Dundurs J.，Sendeckyj G.P.：双金属界面附近的边位错行为。J.应用。物理学。36, 3353–3354 (1965) ·doi:10.1063/1.1702981 [11] Lee M.S.、Dundurs J.：表层中的边位错。国际工程科学杂志。11, 87–94 (1973) ·Zbl 0245.73090号 ·doi:10.1016/0020-7225（73）90071-2 [12] Suo Z.，Hutchinson J.W.：粘附膜下脆性基底中的稳态裂纹。国际固体结构杂志。25, 1337–1353 (1989) ·doi:10.1016/0020-7683（89）90096-6 [13] Fleck N.A.、Hutchinson J.W.、Suo Z.：脆性粘合层中的裂纹路径选择。国际固体结构杂志。27, 1683–1703 (1991) ·doi:10.1016/0020-7683（91）90069-R [14] Erdogan F.，Wu B.：层状正交异性材料中的界面裂纹问题。J.机械。物理学。固体41，889–917（1993）·Zbl 0773.73071号 ·doi:10.1016/0022-5096（93）90004-Y [15] 张天勇：弹性常数对外延层临界厚度的影响。物理学。统计解决方案。（a） 152、415–429（1995）·doi:10.1002/pssa.2211520210 [16] Choi S.T.，Earmme Y.Y.：使用交替技术对奇异性与界面相互作用的弹性研究第二部分。各向同性三元材料。国际固体结构杂志。39, 1199–1211 (2002) ·Zbl 1090.74585号 ·doi:10.1016/S0020-7683（01）00231-1 [17] Wu M.S.，Kirchner H.O.K.：立方晶体（110）平面中的线缺陷——积分形式解决了一个突出的问题。程序。R.Soc.伦敦。A 4592033-2047（2003）·Zbl 1041.74028号 ·doi:10.1098/rspa.2003.1118 [18] Weertman J.：基于位错的断裂力学。《世界科学》，新加坡（1996年）·Zbl 0982.74004号 [19] Wu M.S.：横观各向同性双材料中楔形向错偶极子的精确解。国际工程科学杂志。38, 1811–1835 (2000) ·Zbl 1210.74035号 ·doi:10.1016/S0020-7225（99）00077-4 [20] Wu M.S.，Huang H.，Feng R.：用图像法研究各向异性双晶中界面边缘位错的闭合解。机械。马特。35, 913–930 (2003) ·doi:10.1016/S0167-6636（02）00292-2 [21] 周凯，吴敏生：六方双晶体中周期界面楔向错动偶极子的精确解。数学。机械。固体11，337–360（2006）·Zbl 1133.74011号 ·doi:10.1177/10812865040400 [22] 王华英，吴敏生，范华：分析一般多层膜中混合位错的图像分解方法。国际固体结构杂志。44, 1563–1581 (2007) ·兹比尔1155.74323 ·doi:10.1016/j.ijsolstr.2006.06.042 [23] Wen J.，Wu M.S.：用图像法分析多层智能结构中的线缺陷。机械。马特。39, 126–144 (2007) ·doi:10.1016/j.mechmat.2006.04.003 [24] Hirth J.P.，Lothe J.：错位理论，重印版。Krieger，Malabar（1992年）·Zbl 1365.82001年 [25] 麦克劳德H.A.：薄膜光学滤波器。Adam Hilger有限公司，布里斯托尔（1986） [26] Elsholz F.，Schöll E.，Rosenfeld A.：非晶薄膜生长中表面粗糙度的控制。申请。物理学。莱特。84, 4167–4169 (2004) ·doi:10.1063/1.1755425 [27] Lu H.L.、Scarel G.、Lamagna L.、Fanciulli M.、Ding S.-J.、Zhang D.W.：快速热退火对Si（100）上原子层沉积Lu2O3薄膜光学和界面特性的影响。申请。物理学。莱特。93, 152906-1–152906-3 (2008) [28] Hahn S.L.：信号处理中的希尔伯特变换。Artech House，波士顿（1996）·Zbl 0910.94003号 [29] Tricomi F.G.：积分方程。多佛出版社，纽约（1985） 此参考列表基于出版商或数字数学图书馆提供的信息。其项与zbMATH标识符进行启发式匹配，可能包含数据转换错误。在某些情况下，zbMATH Open的数据对这些数据进行了补充/增强。这试图尽可能准确地反映原始论文中列出的参考文献，而不要求完整或完全匹配。