特尔·马滕，E.Jan W。;西奥·G·J·比伦。;亚历山德罗·迪·布奇亚尼科;罗兰·普尔奇;乌尔里希·勒默;赫伯特·德·格森;瑞克·詹森;乔斯·多门。;布拉迪斯拉夫·塔西奇;雷诺·吉隆;维尔斯，阿诺;弗雷德里克·德勒 估计失效概率。 （英语） Zbl 1453.65375号 ter Maten，E.Jan W.（编辑）等，《纳米电子耦合问题解决方案》。查姆：斯普林格。数学。Ind.29，349-379（2019）。 概述：系统故障描述了工程设备的意外配置，可能导致材料破坏或性能显著损失，并导致屈服损失。对于具有不确定性的系统，故障概率表示发生这种意外配置的概率。然而，在实践中，准确计算失效概率可能非常困难。这也可能变得非常昂贵，因为必须采集许多蒙特卡洛样本，这可能涉及到耗时的评估。在本章中，我们概述了实际估计蒙特卡罗运行量的技术，这些运行量是保证失效概率相对误差的精确界限所必需的。它们用于蒙特卡罗抽样和重要性抽样。这些误差估计适用于非参数和参数抽样。在参数采样的情况下，我们提出了一种混合算法，该算法结合了完整模型的模拟和近似响应面模型。我们用键合线熔断概率的计算来说明这种混合算法。关于整个系列，请参见[Zbl 1433.78001号]. 理学硕士： 65亿75 涉及偏微分方程的初值和初边值问题的概率方法、粒子方法等 65二氧化碳 蒙特卡罗方法 60华氏35 随机方程的计算方法（随机分析方面） 60年第35季度 与光学和电磁理论相关的PDE 82天37分 半导体的统计力学 82年第35季度 与统计力学相关的PDE 35卢比60 随机偏微分方程的偏微分方程 2015年1月62日 贝叶斯推断 62C10个 贝叶斯问题；Bayes过程的特征 62L20型 随机近似 关键词：失效概率;蒙特卡洛;集成电路;电热问题;取样 PDF格式BibTeX公司 XML格式引用 \textit{E.J.W.ter Maten}等人，《数学》。印第安纳州29349-379（2019年；兹比尔1453.65375） 全文： 内政部 参考文献： [1] 1.Babuska，I.、Nobile，F.和Tempone，R.：带随机输入数据的椭圆偏微分方程的随机配置方法，SIAM Review，52.2，pp.317-3552010·Zbl 1226.65004号 [2] 2.《W.J.Braun和D.J.Murdoch：R的第一门统计编程课程》，剑桥大学出版社，2007年·Zbl 1140.68012号 [3] 3.巴克洛，J.A.：《罕见事件模拟导论》，施普林格出版社，2004年·Zbl 1057.65002号 [4] 4.Caflisch，R.E.：蒙特卡罗和准蒙特卡罗方法，《数值学报》，1998年第1-49期·兹比尔0949.65003 [5] 5.Cao，Y.，Li，S.，Petzold，L.和Serban，R.：微分代数方程的伴随灵敏度：伴随DAE系统及其数值解，SIAM J.Sci。计算。，第24-3卷，第1076-1089页，2002年·Zbl 1034.65066号 [6] 6.Casper，T.、De Gersem，H.、Gillon，R.、Gottans，T.和Kratochvíl，T.，Meuris，P.以及Schöps，S.：不确定几何条件下键合线退化的电热模拟。《2016年欧洲会议与展览设计、自动化与测试论文集》（DATE），论文0776，第1297-1302页，2016年。 [7] 7.Casper，T.、Römer，U.和Schöps，S.：键合线熔断概率的有效评估。2016年4月5日至8日在瑞士洛桑举行的SIAM不确定性量化会议上的演讲。 [8] 8.Di Buccianico，A.，ter Maten，J.，Pulch，R.，Janssen，R.、Niehof，J.、Hanssen，M.和Kapora，S.：RFIC隔离的稳健有效不确定性量化和验证，放射工程23:1，308-3182014。 [9] 9 此参考列表基于出版商或数字数学图书馆提供的信息。其项与zbMATH标识符进行启发式匹配，可能包含数据转换错误。在某些情况下，zbMATH Open的数据对这些数据进行了补充/增强。这试图尽可能准确地反映原始论文中列出的参考文献，而不要求完整或完全匹配。