吴庆林;陈宗海;张晨斌 基于量子层析成像的量子状态测量及其仿真。 （中文。英文摘要） Zbl 1212.81004号 控制拒绝。 24，第11期，1625-16281634页（2009年）. 摘要：为了解决量子态的信息获取问题，基于量子层析成像理论，详细分析了单量子比特和多量子比特层析成像技术，设计了一个量子态测量实验。然后，利用计算机仿真技术对单量子比特层析成像进行了仿真，验证了该方法的实用性。仿真结果表明，在量子层析成像实验中选择合适的测量时间，不仅可以重构密度矩阵，获得量子态信息，而且实验效率令人满意。 MSC公司： 第81页第50页 量子状态估计，近似克隆 第81页，共15页 量子测量理论、态操作、态准备 关键词：量子层析成像;量子态测量;量子系统模拟 PDF格式BibTeX公司 XML格式引用 \textit{Q.Wu}等人，《控制决策》。24，第11号，1625-16281634（2009；Zbl 1212.81004）