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杨志明;李俊宝;于，杨;彭锡元

基于概率电压转移特性的逻辑电路NBTI软件瞬态故障率分析方法。 （英语） Zbl 1461.94107号

算法（巴塞尔） 9，第1号，第9号论文，第14页（2016年）.
摘要：随着技术的发展，超大规模集成电路（VLSI）的可靠性越来越容易受到环境噪声引起的瞬态故障的影响。一些常用的容错策略需要使用统计方法来准确估计逻辑电路不同部分的故障率，而蒙特卡罗（MC）仿真通常用于完成这项任务。然而，由于电路的尺寸，MC方法存在不切实际的计算成本。此外，电路老化效应，如负偏压温度不稳定性（NBTI），将改变电路在其寿命期间的特性，导致电路的噪声容限发生变化。这一变化将增加瞬态故障率估计任务的复杂性。本文针对组合逻辑电路，提出了一种基于概率电压转移特性的NBTI感知统计分析方法。该方法利用离散概率密度函数逼近过程获得准确的故障率，从而解决了MC方法的计算成本问题。该方法还可以考虑老化效应并分析故障率的统计变化。实验结果表明，与MC仿真相比，我们的方法可以实现计算时间缩短两个数量级，同时错误率小于9%。

MSC公司：

94C11号机组 交换理论，布尔代数在电路和网络中的应用
94C12号机组 故障检测；电路和网络测试

关键词：

超大规模集成电路;瞬态故障;老化效应;电压传递特性;离散概率密度函数逼近
PDF格式BibTeX公司 XML格式引用
\textit{Z.Yang}等人，《算法（巴塞尔协议）》第9卷第1期，第9号论文，第14页（2016年；Zbl 1461.94107）
全文： 内政部
OA许可证

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