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Murawski，J。;G·施瓦兹。;V·诺瓦克。;普雷特尔，W。;E.舍尔。

半导体低温杂质击穿过程中丝状电流纵向不稳定性的模拟。 （英语） Zbl 1138.82369号

Z.Angew ZAMM。数学。机械。 85，第11期，823-835（2005）.
本文报道了用数值方法研究点接触几何样品中初生电流丝和完全发展电流丝的非稳态状态的一些结果。在作者研究的模型中，允许存在垂直磁场的影响。本文考虑的主要方向与实际二维模拟中击穿区电流细丝的类波不稳定性有关。文中还提供了几种非线性数值模拟。
审核人：维琴·杜勒斯库（Craiova）

MSC公司：

82天37分 半导体统计力学
82D40型 磁性材料的统计力学
82D55型 超导体的统计力学

关键词：

模拟;半导体;电流丝;不稳定性

软件：

WIAS-TeSCA公司
PDF格式BibTeX公司 XML格式引用
\textit{J.Murawski}等人，ZAMM，Z.Angew。数学。机械。85，第11号，823--835（2005；Zbl 1138.82369）
全文： 内政部

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