S.R.阿里奇。;J.P.凯皮奥。;V.科莱赫梅宁。;M.施韦格。;萨默萨洛，E。;塔瓦恩，T。;沃科宁，M。 近似误差和模型简化及其在光学扩散层析成像中的应用。 （英语） Zbl 1138.65042号 反向问题。 22，第1期，175-195（2006）. 摘要：在一些应用程序中，通常由于可用时间、计算机内存或其他限制，需要简化模型。在与偏微分方程有关的问题中，这通常意味着我们必须在正问题的模型中使用稀疏网格。相反，如果我们得到越来越精确的测量结果，我们就必须使用越来越准确的正向问题求解器来利用测量结果中的信息。光学扩散层析成像（ODT）就是一个例子，其中正向问题求解器所需的典型精度导致计算时间在生物医学和工业终端应用中可能无法接受。本文回顾了近似误差理论，并研究了光学扩散层析成像中网格密度和测量精度之间的相互作用。我们表明，如果估计并使用近似误差，则可以使用传统测量模型无法接受的网格密度。 引用于54文件 MSC公司： 65J22型 抽象空间反问题的数值解法 78A70型 光学和电磁理论的生物学应用 软件：范胡菲尔 PDF格式BibTeX公司 XML格式引用 \textit{S.R.Arridge}等人，《反问题》。22，第1号，175--195（2006；Zbl 1138.65042） 全文： 内政部 链接