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使用遗传算法设计双采样和三采样X-bar控制图。 (英语) Zbl 1038.90513号

摘要:随着当今制造企业向敏捷制造方向发展,对快速经济的在线统计过程控制解决方案的需求很高。多重采样(X)条形控制图就是这样一种选择。它们可以被设计为允许快速检测过程均值的微小变化,并在敏捷制造环境中提供快速响应。本文建立了双采样(DS)X条形控制图的设计公式,并用遗传算法进行了求解。基于解决DS图设计问题的结果,开发了三采样(TS)X条形控制图。比较了TS图和DS图的效率。比较结果表明,TS图在最小化平均样本量方面更有效。

MSC公司:

90立方厘米 生产模型
90 C59 数学规划中的近似方法和启发式
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全文: 内政部

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