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佩雷格·巴内亚，T。;M·弗兰兹。

准粒子干涉图样作为铜氧化物超导体中伪间隙相性质的测试。 （英语） Zbl 1135.82332号

国际期刊修订版。物理学。B类 19，第4期，731-761（2005）.
概述：当电子被静态随机无序散射时，会形成驻波，可以使用扫描隧道显微镜进行成像。通过最近开发的傅里叶变换扫描隧道光谱（FT-STS）技术观察到的这种干涉图样显示出材料中存在的电子顺序的独特指纹特征。我们利用FT-STS技术的这一特点，提出了一种测试高（T_c）铜氧化物超导体中神秘赝隙相性质的方法。通过对准粒子光谱和相干因子的敏感性，FT-STS模式原则上携带了足够的信息，可以明确地确定导致伪间隙现象的冷凝物的性质。实际上，由于缺乏对散射机制的详细了解，再加上实验不确定性，无法进行明确的测定。然而，我们认为，目前正在进行的下一代FT-STS实验应该能够区分由超导序残余物支配的赝隙和由粒子孔通道中某些竞争序控制的赝间隙。通过一般性论证和详细的数值计算，我们指出了这两种场景之间的某些根本差异，并讨论了未来实验的前景。

MSC公司：

82D55型 超导体的统计力学

关键词：

超导电性;态密度;费米表面;磁散射
PDF格式BibTeX公司 XML格式引用
\textit{T.Pereg-Barnea}和\textit{M.Franz}，国际期刊Mod。物理学。B 19，编号4，731--761（2005；Zbl 1135.82332）
全文： 内政部 arXiv公司

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