图8。

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Notch1b是维持祖细胞分裂和命运所必需的。(A类)的示意图缺口1b-MO击倒实验:在荧光标记物电穿孔后2天和5天对大脑进行分析缺口1b-大脑皮层心室细胞中的MO或对照-MO。(B类C类)电穿孔(荧光素阳性)(绿色)RG(抗GS)(品红色)的增殖状态(抗MCM5)(蓝色)分析,在电穿孔后5天通过免疫细胞化学评估。箭头表示RG增殖,通常缺口1b-MO-阴性。(D类)MO靶向人群中MCM5阳性、GS阳性细胞的比例,2天(P(P)=0.05)和5天(**P(P)<0.001)电穿孔后(n个=每种情况下3个大脑)。(E类)中的命运分析示意图缺口1b-MO击倒实验:在苍白脑室细胞电穿孔荧光标记的notch1b-MO或对照-MO后2天,施加BrdU脉冲。大脑会立即或在3天的追踪后进行分析。(F类G公司)电穿孔(荧光素阳性)(绿色,箭头)RG(抗GS)(品红色)中BrdU标记(白色)的分析,在3天追踪后通过免疫细胞化学进行评估。箭头指示对照MO(神经胶质细胞F)和缺口1b-MO(G)。(H(H))MO目标人群中2天内BrdU阳性、GS阳性细胞的比例(P(P)=0.05)和5天(**P(P)<0.001)电穿孔后(n个=每种情况下3个大脑)。()类型I(GS阳性,MCM5阴性)、类型II(GS正,MCM5+阳性)、类型III(GS阴性,MCM5-+阳性)和非前体细胞(GS负,MCM5-阴性)的比例[可能是神经元,它们实际上构成了从大脑皮层GZ生成的唯一非前体电池类型(Chapouton等人,2010年;Rothenaigner等人,2011年)]电穿孔后5天,BrdU阳性MO靶向人群(II型,神经元:**P(P)<0.001) (n个=每种情况下3个大脑)。比例尺:10μm。来自四个光学平面的共焦投影图像,每个光学平面的厚度为0.5μm。