B比特量化下的非参数推断
李克轩、刘瑞琪、徐刚、尚左凤; 25(19):1−68, 2024.
摘要
在信号/图像处理、医学图像存储、遥感、信号传输等研究领域，经常需要基于有损或不完整样本的统计推断。在本文中，我们提出了一种非参数测试程序，该程序基于通过计算高效的算法量化为$B$位的样本。在温和的技术条件下，我们建立了所提出的测试统计量的渐近性质，并研究了测试能力如何随着$B$的增加而变化。特别是，我们表明，如果$B$超过某个阈值，则所提出的非参数测试程序实现了样条模型的经典最小最大测试率（Shang和Cheng，2015）。我们进一步将理论研究扩展到非参数线性检验和自适应非参数检验，扩展了所提方法的适用性。广泛的模拟研究{连同实际数据分析}被用于证明所建议测试的有效性和有效性。
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