X射线技术 / X射线衍射计算机断层摄影术(XRD-CT)

X射线衍射计算机层析成像

利用X射线衍射计算机层析成像(XRD-CT),可以识别混合物或大块中的相,并将其与样品中的位置关联起来,并实时监测。实现这一过程的一个关键是一个高能混合像素探测器。

XRD-CT数据提供了一个三维图,其中每个像素/体素包含一个不同的衍射图案,从而产生物体中晶体相的局部信息。XRD-CT的弱点之一是测量通常需要在空间和时间分辨率之间进行权衡。在实验层面上,这一突破源于现代高能束线和基于碲镉汞(CdTe)传感器的混合像素探测器的结合。 

碲镉汞探测器为硬X射线带来了光子计数技术的所有好处:无噪音性能、速度、高动态范围和高分辨率。这有助于将XRD-CT推向5D技术的地位,其中三个空间维度、一个时间维度和一个散射维度成功应用于现场以及反应的操作监测。该技术在分析各种材料和系统时非常有用,包括燃料电池、催化剂、稀释材料和生物组织。

  • CdTe探测器确保在使用硬X射线时具有高效率。
  • 两个像素大小允许接近或远离采样的几何体。
  • 通过优化速度的读出和帧速率,以及构建大面积探测器的能力,可以进行现场和操作研究。

Synchrotrons的X射线衍射计算机层析成像

  • 可提供大面积CdTe探测器。
  • 我们的探测器用于第四代同步辐射源,具有高计数率和产品稳定性。
  • EIGER2 CdTe探测器允许连续读出和感兴趣区域(ROI)。

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蒂尔曼·多纳思
产品经理-高能

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