晶体学信息文件(CIF)https://doi.org/10.107/S1600536804013595/lh6225sup1.cif 包含数据块I,publication_text,1
结构系数文件(CIF格式)https://doi.org/10.107/S1600536804013595/lh6225Isup2.hkl 包含数据块I
CCDC参考:245289
未发现语法错误 警报级别C PLAT026_警报_3_C观察到的比率/独特反射太低。。。。48百分比。平台220_警报2_C大型非溶剂C Ueq(最大)/Ueq。。。2.85比率铭牌230_铭牌_2_CC32-C33的Hirshfeld测试差异。。5.72苏铭牌230_铭牌_2_CC56-C57的Hirshfeld测试差异。。5.59苏板241_ALERT_2_C检查与相邻值相比的高U(eq)。。。。C31号机组板241_ALERT_2_C检查与相邻值相比的高U(eq)。。。。C48型平台242_警报_2_C检查与相邻值相比的低U(eq)。。。。C32号机组平台242_警报_2_C检查与相邻值相比的低U(eq)。。。。第46页平台242_警报_2_C检查与相邻值相比的低U(eq)。。。。第53页PLAT410_警报_2_C短内部H…H触点H28B。。H31B。。1.96角度。0A级警报=一般情况:严重问题0B级警报=潜在的严重问题10C级警报=检查并解释0G级警报=一般警报;检查0警报类型1 CIF构造/语法错误,数据不一致或缺失9警报类型2结构模型可能错误或有缺陷的指示器1警报类型3结构质量可能较低的指示器0警报类型4改进、方法、查询或建议
数据收集:智能(布鲁克,1997-1999);单元格细化:智能; 数据缩减:圣保罗(布鲁克,1997-1999);用于求解结构的程序:架子97(谢尔德里克,1997年b);用于优化结构的程序:SHELXL97型(谢尔德里克,1997年b);分子图形:铂(斯佩克,2004);用于准备出版材料的软件:SHELXTL公司(谢尔德里克,1997年a)。
实验。通过在数据收集和分析重复反射。
1在Bruker AC-300光谱仪上获得H NMR光谱(300.15 MHz)使用溶剂作为化学位移标准。电子电离质量在VG仪器ZAB-IF光谱仪上以电势获得光谱70 eV。
几何图形所有的e.s.d.(除了两个l.s.平面之间的二面角中的e.s.d.)使用全协方差矩阵进行估计在估计距离、角度的e.s.d.时单独考虑和扭转角;e.s.d.细胞内参数之间的相关性仅为当它们由晶体对称性定义时使用。近似(各向同性)细胞e.s.d.的处理用于估计涉及l.s.的e.s.d。飞机。
精炼.完善F类2对抗所有反射。加权的R(右)-因子水风险和贴合度S公司基于F类2,常规R(右)-因素R(右)基于F类,带有F类设置为零消极的F类2。的阈值表达式F类2>σ(F类2)仅用于计算R(右)-因子(gt)等。并且与选择反射进行细化无关。R(右)-因素基于F类2从统计上看大约是两倍大作为那些基于F类、和R(右)-基于所有数据的系数将为甚至更大。