通过在损伤显现之前收集结构数据集，是否可以“超越”辐射对蛋白质晶体的损伤？最近使用自由电子激光器产生的超强脉冲进行的实验表明，答案是肯定的。这里，有证据表明，使用常规X射线源和现有或即将可用的探测器，在200 K以上的温度下，可能会显著减少全球损害。具体而言，在180至240 K的温度和200至1200 s的时间尺度下观察到“暗进展”（X射线关闭后，损伤随时间增加）。这使得可以估计损伤的温度相关时间刻度。暗进展速率符合激活能为14 kJ mol的阿伦尼乌斯定律-1这与溶剂耦合扩散损伤过程的活化能相当，该过程导致当晶体在玻璃化转变温度接近200K时，辐射敏感性迅速增加。分析表明T型=300 K的数据收集时间约为1s（在较低温度下更长），可以显著减少整体辐射损伤，有助于用液体溶剂在晶体上进行结构溶解。以下未观察到暗进展T型=180 K，表示在该温度范围内，没有任何重要的损伤过程通过该时间刻度窗口减缓。
