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为齐格勒、E。

搜索齐格勒,E。世界结晶学家名录

结果1至15,按名称排序:


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对X射线近场散斑相敏方法及其可用于光学和光束表征的相关处理方案进行了理论综述。

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在光学和光束特性的背景下,对X射线近场散斑相敏方法及其相关处理方案进行了实验说明。

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基于斑点追踪的仪器的理论描述和实验实现,该仪器允许表征X射线脉冲波前。

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介绍了用于硬X射线的线性硅衍射透镜的制造和测试。

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水冷双W/Si多层单色器已在低ESRF下运行-β波动光束。对于两个多层膜的固定距离,一阶布拉格反射为~8keV。多层膜出口处的光束峰值功率密度为~1 W mm−210μm准直器后的一阶通量密度为4×105光子−1微米−2妈妈−1.在20μm W导线上测试了光束在微束衍射中的性能。根据多层光谱讨论了观察到的伪蓝图案。

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已经通过实验研究了利用单晶(其表面具有适当设计的横向槽)的衍射来聚集同步辐射X射线束的可能性。报道了这种效应的首次实验证明,在ESRF的束线BM5上进行。

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已开发出用于40-100 keV能量范围内同步辐射的新型聚焦光学器件。首先,通过组合经向弯曲的劳厄和布拉格晶体,构造了一种窄带聚焦能量可调谐固定出口单色器。尽管聚焦导致光束发散,但采用色散补偿来保持高动量分辨率。接下来,通过晶体单色器后面的弯曲多层膜和弯曲劳厄晶体实现微聚焦。在90 keV下获得1.2µm高线焦点。描述了不同设置的特性,并讨论了潜在的应用。首先进行了实验,以高空间分辨率研究层状多晶材料中的残余应变梯度。结果表明,聚焦高能同步辐射可以为材料科学家提供介观尺度上的独特信息,补充基于传统X射线源、中子散射或电子显微镜的现有技术。

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利用X射线衍射(衍射对比成像方法)研究了光学光刻法制备的金属氧化物隧道结,以获得组成层晶面的局部畸变。研究了结的尺寸(10-150µm)和形状(圆盘、方形和矩形)的影响。

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在X射线范围内,在L(左)2,3铑的边缘。这些实验之所以具有原创性,是因为在单色器上游插入了一个非常紧凑的双反射计。这种结构充分利用了螺旋波荡源的高极化率。这种优势体现在仅经过几次积累后获得的数据质量很高。研究还表明,通过适当选择入射角,可以获得由色散项或吸收项控制的实验微分X射线反射率谱。

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对Ge的新见解2某人2Te公司5通过同步辐射X射线衍射、X射线反射率和热退火过程中的薄板电阻测量,获得了非晶到结晶的相变。这种方法能够在相变过程中发生的结构变化和电变化之间建立直接关联。

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具有不同成分(W/Si、Mo/Si、Pd/B4C)、周期性(2.5至5.5 nm)和层数的多层膜已根据其作为同步电子硬X射线显微成像单色器的性能进行了表征。

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这里直接比较了各种X射线波前传感方法,并将其应用于X射线自由电子激光器的光学对准和聚焦特性。具有和不具有校正相位板的差分波前测量与其设计一致,在λ/20以内,从而能够在方法之间进行直接的定量比较。

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异常小角度X射线散射的测量通常包括强荧光背景。弹性散射与背景的分离通常在分析时进行。本文提出了一种替代方案实验的方法使用与线性位置敏感探测器兼容的多层分析仪,并对测试用例,将结果结构因子与通过常用技术获得的结构因子进行比较。该技术实现了所提出的目标,但以计数率为代价。

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介绍了一种新型X射线束的主要特性。脉冲表面声波对X射线的衍射用于进行同步辐射脉冲的灵活高频选择。

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本文采用有限元建模和分析公式,对基于弯曲铰链的弯曲机进行了参数研究和设计优化。建立了镜面形状与驱动力之间的关系,即所谓的弯曲驱动方程。研究了各种参数:材料特性、几何参数、反射镜和弯曲铰链的应力和变形、反射镜的剩余斜率误差以及执行器所需的分辨率。将分析结果与原型折弯机和硅镜(170×40×10mm)的测试结果进行了比较。分析和测试结果都证实了弯镜的微弧度精度。最后,还介绍了一种适用于短弯曲半径应用的弯曲机设计。

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