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发现Yu,K.-L的13处引文。

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搜索Yu,K.-L。世界结晶学家名录

结果1至13,按名称排序:


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J.应用。克里斯特。(2007).40,s480至s484
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使用反常掠入射小角度X射线散射来验证FePt纳米粒子在1073 K退火期间在金覆盖层下保持完整。

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阿克塔·克里斯特。(2007).一个63,第225页至第226页
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介绍了一种新安装的用于结构表征的小/广角X射线散射(SAXS/WAXS)仪器。仪器性能如图所示通过各种测量,包括从空气-水界面同时测量SAXS/WAXS和掠入射SAXS。

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在同步辐射研究中心(SRRC)的弯曲磁铁B15上调试了一条低成本的多用途X射线束线。光束线的建造方式能够满足来自大学或研究机构的小型研究财团的各种需求,这些大学或研究院对光束线设施的要求非常多样化,但资金支持有限。灵活性是该光束线的特点。它能够进行快速测试测量,而无需长时间的审查过程。可以在1小时内实现不同技术之间的切换,例如白光照射、EXAFS和X射线散射。还可以进行新的实验,例如能量色散小角度散射实验和能量色散反射率测量。

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在本研究中,五个外延[Co(t nm)/Pt(1 nm)]30用极化X射线吸收光谱法研究了多层样品(t=0.16-1.07nm)。这些样品是在Mo(110)/Al上制备的2O(运行)(11-20)衬底。结果表明,当钴层厚度小于0.3 nm时,钴层更像是fcc伪晶结构。对于厚度为1nm的Co层,第一壳层距离为0.25nm,这与大块hcp Co的Co-Co距离非常接近。另一方面,对于厚度小于0.3nm的钴层,平面内第一壳层间距扩大了4%,并且大多数相邻原子是Pt原子。Co/Pt多层膜的拟合结果似乎支持尖锐边界模型,而不是互扩散模型。

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采用掠入射小角X射线散射和X射线衍射技术研究了MoSi的粒度和分布2Mo离子注入Si(100)晶片在1073K下经过不同的退火时间。由于缺陷的恢复,样品的薄板电阻在退火开始时降低,然后由于较大且分离的颗粒的增长而增加。MoSi的粒度2掠入射小角X射线散射比面内广角X射线衍射大,这可能表明MoSi2粒子由大量无序组分组成,或者是由几个较小的有序颗粒组成的簇。

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NSRRC安装了一条带有超导摆动器源的专用SAXS光束线,以提供10的低发散光束10–1011光子s−1用于纳米结构研究的能量范围为5–23 keV。

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阿克塔·克里斯特。(2018).一个74,e400(电子400)
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