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美国韦尔泽尔发现12处引文。

结果1至12，按名称排序：

闭合晶体结构中的叠层和孪晶断层：完整断裂概率范围内随机断裂统计的精确描述

E.Estevez公羊,U.韦尔泽尔,A.彭顿牧歌和E.J.Mittemeijer公司

重新考虑了面心立方和六角形紧密堆积中考虑单变形断层或双断层的独立随机断层模型。该方法允许在随机模型内分析整个范围的断层概率。文中对潜在的断层作用过程进行了一些描述，从而可以推导出断层序列的不同性质。导出了发现相隔两层相同类型Δ层的概率。结果表明，以前的推广并没有考虑到最终概率表达式中的混合项。

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薄膜残余应力分析

J.-D.卡明加,利奥尼先生,L.J.塞伊贝尔,U.韦尔泽尔,P.拉帕特和E.J.Mittemeijer公司

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弹性-机械颗粒相互作用引起的X射线衍射线展宽测量

M.K.A.Koker先生,U.韦尔泽尔和E.J.Mittemeijer公司

本工作提供了一份同步辐射衍射研究报告，专门用于测量由各种多晶体样品的外部弹性载荷引起的实验可观察衍射线展宽。将实验获得的展宽数据与采用各种颗粒相互作用模型计算的数据进行了比较。

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一种在固定穿透/信息深度下通过X射线衍射测量对机械应力梯度进行无损分析的方法

A.库马尔,U.韦尔泽尔和E.J.Mittemeijer公司

针对固定穿透/信息深度的（X射线）衍射应力测量，制定了严格的测量策略。因此，传统（X射线）衍射（sin）中缺乏穿透深度控制导致的误差²ψ）测量结果已被取消。

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薄膜的非环境X射线衍射残余应力分析：追踪纳米尺寸对热弹性常数的影响并识别残余应力来源

Y.Kuru（Y.库鲁）,M.Wohlschlögel先生,U.韦尔泽尔和E.J.Mittemeijer公司

讨论了薄膜（纳米颗粒）非环境X射线衍射应力分析中的陷阱。提供了识别纳米尺寸对热弹性常数和各种残余应力来源的相关影响的方法。

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高平面断裂宏观弹性各向异性薄膜的衍射应力分析及其在拉伸加载纳米晶Ni和Ni（W）中的应用

S.J.B.库尔兹,U.韦尔泽尔,E.比肖夫和E.J.Mittemeijer公司

对高度平面断裂的纤维织构薄膜进行了方便、有效的应力分析，分离了断层引起的衍射峰位移和应力引起的衍射峰位移。在拉伸试验期间，将该方法应用于镍（W）薄膜，与纯镍薄膜相比，其刚度和强度大大提高。

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Aging-时间分辨就地用二维探测器X射线衍射研究铜基镀锡膜的微观结构

J.斯坦,U.韦尔泽尔,W.Huegel公司,S.布拉特和E.J.Mittemeijer公司

通过以下方法研究了在铜衬底上电镀的纯锡薄膜就地使用配备二维探测器的实验室衍射仪进行室温老化期间的X射线衍射分析。通过使用所采用的衍射方法追踪Sn薄膜中单个Sn晶粒随时间的衍射斑点，可以揭示薄膜中的局部微观结构变化，例如晶粒旋转、晶粒生长和晶粒溶解。

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多毛细管X射线透镜在X射线衍射纹理测量中的应用

U.韦尔泽尔和利奥尼先生

本文讨论了用多毛细管X射线透镜在准平行光束几何中测量X射线衍射织构（极点图）的仪器像差。提出了纠正程序。

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多晶薄膜和表面区域的X射线衍射应力分析

U.韦尔泽尔,J.利戈特,P.拉帕特,A.C.Vermeulen公司和E.J.Mittemeijer公司

本文综述了薄膜和表面区域的衍射应力分析方法。宏观弹性各向同性的情况和对各向异性试样进行了处理。

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单反射准直多层光学器件在平行束X射线衍射实验中的应用

M.Wohlschlögel先生,T.U.Schülli公司,B.兰茨和U.韦尔泽尔

详细描述了配有旋转阳极源、可在两个相互垂直的平面上准直X射线束的单反射准直多层光学元件和探测器前面的平行板准直器的衍射仪的性能。多层光学器件的射线追踪计算和标准粉末衍射实验证明了其性能。

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机械应力和晶体结构X射线衍射测量用加热/冷却室的校准

M.Wohlschlögel先生,U.韦尔泽尔,G.迈尔和E.J.Mittemeijer公司

已使用基于X射线衍射的方法和基于测温的方法校准了用于X射线衍射测量的商用加热/冷却室。对这两种方法进行了比较，并讨论了其优缺点。

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铜薄膜中晶粒相互作用和应力深度梯度的测定

M.Wohlschlögel先生,W·鲍曼,U.韦尔泽尔和E.J.Mittemeijer公司

通过X射线衍射应力测量，确定了铜薄膜中晶粒相互作用和应力的深度梯度。通过对同步加速器和实验室测量结果的比较，说明了表面粗糙度和入射光束折射的影响，并利用相应的波长变化来调节吸收。

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