同步辐射粉末X射线衍射（SPXRD）领域的进展使其成为探测精细电子特征的可行方法。它对高结晶无机延伸材料特别有效，解决了单晶衍射通常遇到的严重消光问题。此外，SPXRD数据显示吸收显著降低，可在一次曝光中收集。后者可以防止系统错误合并多个检测器帧，每个帧的比例因子略有不同。这些实验优势被更复杂的数据分析所抵消，其中的关键问题是重叠反射和背景减影的固有挑战。为了评估SPXRD的性能并测试估算电荷密度（CD）的方法，我们使用了收集到的低d间距金刚石的基准数据。[1] 关键步骤是从粉末图案中恢复观察到的结构因子。这是本研究的重点，详细研究了在模型复杂性和结构依赖性方面严重偏离的几种传统和新方法。通过多极建模和最大熵重建，评估了所有恢复的结构因子集确定真实原子位移参数和估计CD的能力。这些数据质量非常好，甚至揭示了最里面的电子密度是如何响应共价键的形成的（下图）。只有基于Rietveld的方法能够量化这一精细特征，这支持了它们在过去几十年取得的巨大成功。核心极化研究已成为化学键研究的一个新前沿，对于高结晶材料，SPRXD可以可靠地获取相关的实验信息。
