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为Van Loock，J发现了5处引文。
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结果1到5，按名称排序：
单色仪的X射线吸收决定了单色X射线束中的波长色散，并解释了Δλ
石墨（002）单色铜、钼和铑辐射的λ值为0.03、0.14和0.16。为了消除由大波长色散引起的系统强度截断误差，提出了一种基于应用扫描角和实际光束光谱的校正方法。
抽象理论表达式R（右）2和R（右）N个2，为空间组提供了用于自动结构分析的指示符函数P（P）1和P（P）
作为的函数σ21=∑P（P）j个= 1 （f）2j个/ΣN个j个= 1 （f）2（f）(P（P）是暂定结构模型中的原子数）和阈值一在强度数据上。看起来R（右）2只是有点依赖，R（右）N个2然而，它强烈依赖于一如果从数据集中消除了低强度反射，R（右）2，而不是R（右）N个2因此，在测试原子位置的可靠性时仍然是一个有用的控制函数。理论和实验表明，两者吻合良好。
