中子小角散射中的准直修正

针对静态近似中仪器分辨率的影响，开发了一种修正中子小角度漫散射实验数据的数值技术。反褶积方法不需要任何特殊的先验的对微分截面形式的理论预测，同时假设分辨率是两个独立函数的乘积，这两个独立函数表示入射光束和散射光束在散射平面（水平准直）和法线平面（垂直准直）中的有限角发散的影响。在各种典型实验条件下测试了该方法的有效性，并结合影响输入数据的随机误差对结果进行了讨论。

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