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高野，H。
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J.同步辐射。
（2002年）。
9
，
125-127
https://doi.org/10.107/S0909049502004223
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采用菲涅耳波带片光学的25 keV Zernike型X射线成像显微镜
M.Awaji先生
，
铃木Y.Suzuki
，
A.竹内
，
H.高野
，
N.卡米霍
，
S.Tamura公司
和
M.Yasumoto先生
开发了一种使用溅射切片菲涅耳波带板的Zernike型成像显微镜，并在25keV的X射线能量下进行了测试。
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《水晶学报》。
(2013).
一个
69
，
322-340
https://doi.org/10.107/S0108767313005035
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铝基F型二十面体合金的团簇堆积几何
N.富士
，
H.高野
，
A.山本
和
A.-P.蔡
首次合成了一种高稳定、周期性的铝基F型二十面体准晶i-Al–Pd–TM（TM=过渡金属）。
对晶体结构的深入研究导致了对与准晶密切相关的更广泛的复杂晶体结构的普遍描述。
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《水晶学报》。
(2005).
一个
61
，
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SPring-8 SR X射线微衍射系统的现状与应用
鹿儿岛
，
T.小山
，
K.福田
，
H.高野
，
Y.Tsusaka先生
和
J.松井
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J.同步辐射。
（2002年）。
9
，
182-186
https://doi.org/10.107/S090904950200376X
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溅射菲涅耳波带片硬X射线微束实验及其应用
N.卡米霍
，
铃木Y.Suzuki
，
M.Awaji先生
，
A.竹内
，
H.高野
，
T.尼诺米娅
，
S.Tamura公司
和
M.Yasumoto先生
已开发出用于硬X射线聚焦的溅射菲涅耳波带片。
作为微束技术的一个例子，使用荧光扫描显微镜获得了法医样品中组成元素的二维分布。
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J.同步辐射。
(2021).
28
，
732-740
https://doi.org/10.107/S1600577521001521
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大视场像素超分辨率扫描透射硬X射线显微镜用倾斜折射多透镜阶梯阵列
T.马米尔巴耶夫
，
K.池松
，
H.高野
，
吴彦祖（Y.Wu）
，
基穆拉
，
P.玩偶
，
A.最后
，
A.莫莫
和
P.梅耶
一种新的X射线聚焦设备可以产生数十万个线状聚焦，周期性地分布在亚微米范围内，长度为厘米。
它可以实现大视场像素超分辨率扫描透射硬X射线显微镜。
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J.同步辐射。
（2002年）。
9
，
128-131
https://doi.org/10.107/S0909049502004272
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用全场X射线荧光显微镜和CCD光子计数系统进行元素分析
T.Ohigashi先生
，
N.Watanabe公司
，
H.横须贺
，
T.奥塔
，
H.高野
，
A.竹内
和
青木S
对CCD光子计数系统与全场X射线荧光显微镜相结合的元素分析性能进行了评估。
可以获得能量分辨率为350keV的二维元素图。
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J.同步辐射。
(2014).
21
，
446-448
https://doi.org/10.1107/S160577513034644
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窄环形孔径多层波带片聚焦X射线束的点扩散函数测量
H.高野
，
S.Konishi公司
，
T.小山
，
Y.Tsusaka先生
，
S.Ichimaru公司
，
T.Ohchi公司
，
H.竹中
和
鹿儿岛
报道了多层波带片聚焦性能的评估。
使用常规刀刃扫描测量和层析重建获得聚焦光束的点扩散函数。
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J.同步辐射。
（2002年）。
9
，
115-118
https://doi.org/10.107/S0909049502004740
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菲涅耳波带片的高阶衍射表征
A.竹内
，
铃木Y.Suzuki
和
H.高野
通过观察高阶衍射的聚焦特性，测试了菲涅耳波带片的性能。
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（2002年）。
9
，
154-159
https://doi.org/10.107/S0909049502003746
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直流溅射沉积高能同步辐射X射线多层菲涅耳波带片的研制
S.Tamura公司
，
M.Yasumoto先生
，
N.卡米霍
，
铃木Y.Suzuki
，
M.Awaji先生
，
A.竹内
，
H.高野
和
K.汉达
Cu/Al多层菲涅尔波带片（最外层宽度0.25
µm）已通过直流溅射沉积得到。
在SPring-8的波荡光束线BL47XU处，几乎衍射光微束为0.3–0.35
已获得µm，精细的线和空间分辨率测试图形的清晰图像高达0.2
观察到µm。
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J.同步辐射。
（2000年）。
7
，
34-39
https://doi.org/10.107/S0909049599014260
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利用X射线荧光成像显微镜的吸收边绘制特定元素
K.山本
，
N.Watanabe公司
，
A.竹内
，
H.高野
，
T.奥塔
，
福田先生
和
青木S
报道了使用SPring-8 X射线荧光成像显微镜进行元素定位的情况。
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（2002年）。
9
，
179-181
https://doi.org/10.107/S0909049502004211
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光子工厂带波带板的Zernike型相控硬X射线显微镜
H.横须贺
，
N.Watanabe公司
，
T.Ohigashi先生
，
Y.吉田
，
S.Maeda公司
，
青木S
，
铃木Y.Suzuki
，
A.竹内
和
H.高野
在光子工厂BL3C2建造了带有波带板和相位板的Zernike型相控X射线显微镜。
可以分辨出宽度精确到0.3µm的钽线条图案。
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