本文介绍了一种新型的四圆衍射仪，用于同步辐射X射线结构分析，特别是利用相对重原子的反常散射。该系统安装在高能物理国家实验室光子工厂（PF）的光束线10A上，其2θ臂在垂直于地板的平面内旋转。在该系统中，使用了水平色散型单色器。当使用来自Si单色仪的111反射时，对于约10keV的X射线，能量分辨率约为14eV。四圆衍射仪、单色仪和四圆衍射计的校准支架可以由计算机控制，因此，一旦调整了光学系统以适应特定波长的X射线，就可以在选定的任何波长下自动测量单晶样品的衍射强度值。NaI（Tl）闪烁计数器用于衍射光束的强度测量和入射光束强度的监测。为了提高计数率，上述两个强度测量使用50 MHz计数器。在这种设置中，大约1%的计数损失发生在55000秒的计数率上−1使用该衍射仪，测量了锌两侧两个能量值下异极晶单晶的衍射强度K（K）吸收边缘。通过标准反射和监视器计数进行归一化后，强度的变化与通常实验室测量的数据相比有点大。根据在两个能量值下测量的这些数据，计算出了所谓的双波长异常散射差Patterson函数，其中Zn–Zn矢量峰的高度是普通Patterson的两倍。
