基于从球形单晶收集的精确X射线衍射强度数据,研究了MnO、Mn的净原子电荷和电子密度分布2二氧化硅4,镁2硅2O(运行)6、LiAlSi2O(运行)6和CaMgSi2O(运行)6对测定给定结构中原子电荷的各种程序进行了检查,得出以下方法似乎最可靠的结论。(1) 对于阳离子:半径范围内的电子数急诊室,有效分布半径根据径向分布函数或差分-源映射的特性定义,计算了。(2) 对于氧原子:当阳离子电荷固定在从上述程序获得的值上,且晶体的总电荷被约束为中性时,氧电荷通过使用原子散射因子的最小二乘细化来估算。所检测的原子的最终电荷比相应的正式电荷少:Li、O、Mg、Al、Si、Ca和Mn的最终电荷分别为+0.7(1)、-1.1至-1.5、+1.4(1)至+1.8、+2.4(1。LiAlSi晶体经过电荷细化后,在不同的傅里叶图中清楚地观察到Si和O之间的残余电子密度2O(运行)6,CaMgSi2O(运行)6和Mg2硅2O(运行)6.