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Riello，P.被引用18次。

搜索里埃罗，P。世界结晶学家名录

结果1至18，按名称排序：

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部分结晶氧化锆气凝胶的分形特性

A.贝内德蒂，G.法格拉齐，P.里埃罗，曾云伟（Y.W.Zeng），F.品纳和M.西尼奥雷托

以锆为原料制备了结晶度为70%的氧化锆气凝胶n个-水解过程中使用了过量水的丙氧基。小角X射线散射（SAXS）技术表明，该体系具有质量分形特征。基本构建块的大小约为50º，显示出非分形（平滑）边界曲面。质量分形维数，D类_米SAXS发现，等于1.95（5）。这种分形系统的新颖之处在于，基本块由结晶度高的氧化锆颗粒组成（主要是四方形状）。该系统的结晶性质使得可以在日志中交叉确定的粒度之间进行有趣的比较我(小时)与日志小时通过线加宽X射线衍射分析确定了SAXS图和微晶尺寸。

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立方Na改性ZrO的稳定化₂：中子衍射研究

P.广州，G.法格拉齐，R.弗拉蒂尼和P.里埃罗

Na改性ZrO的中子衍射₂显示出同时存在立方相和四方相，通过X射线衍射几乎无法检测到四方相。

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三相系统的小角度散射：在煤炭提取过程中的应用

西卡列洛和P.里埃罗

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非晶样品的物理散射密度涨落

西卡列洛，P.里埃罗和A.贝内德蒂

如果在有限体积上计算傅里叶变换的模，则可以将函数视为物理散射密度波动V（V）并除以V（V）^1/2，趋向于有界非零函数V（V）→ ∞ 如果平方极限服从Porod不变关系。

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线状和薄膜状系统的小角度散射行为

西卡列洛，P.里埃罗和A.贝内代蒂

线状和薄膜状系统的散射强度分别表现为 ${校准P}_{校准C}}/q$ 和 ${校准P}_{校准S}}/q^2$ 在散射矢量幅度的中间范围内q个. The

和 ${\cal P}$ 报告表达式。

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三相样品的小角度散射：在萃取过程中的煤中的应用

西卡列洛和P.里埃罗

在经过轻微修改推导出样品散射强度之间的线性关系后，我们对煤的流体萃取过程进行了表征。

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部分稳定氧化锆纳米粉体中铕组分波动的测定：一种基于非线性的方法

R.马林，G.海绵，M.背面和P.里埃罗

本文根据部分转化样品的X射线衍射图谱的比较，讨论了一种测定部分稳定氧化锆成分起伏的新方法。

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偏光玻璃的二维SAXS研究

S.Polizzi公司，P.里埃罗，G.法格拉齐，M.巴克和N.F.博雷利

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ASASS对负载型金属催化剂的定量研究

S.Polizzi公司，P.里埃罗，G.戈里克和A.贝内德蒂

讨论了反常小角X射线散射在负载型金属催化剂研究中的局限性和潜力。提出了优化的实验条件和测量策略，并提出了获得定量可靠结果的数据评估方法。

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拉伸硼硅酸盐玻璃的二维小角度X射线散射研究。勘误表

S.Polizzi公司，P.里埃罗，G.法格拉齐，M.巴克和N.F.博雷利

更正为J.应用。克里斯特。30, 487 - 494。

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拉伸硼硅酸盐玻璃的二维小角度X射线散射研究

S.Polizzi公司，P.里埃罗，G.法格拉齐，M.巴克和N.F.博雷利

通过二维模型拟合HASYLAB（DESY）同步辐射源获得的小角度X射线散射数据，研究了含有Ag（Cl，Br）或Ag针状粒子的玻璃。

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基于物理背景的X射线Rietveld分析

P.里埃罗，G.法格拉齐，D.克莱门特和P.广州

发展了Rietveld X射线分析，其中背景散射由基于物理原理的方程描述。

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用Rietveld分析法测定半结晶材料的结晶度

P.里埃罗，G.法格拉齐，P.广州，D.克莱门特和M.西尼奥雷托

利用基于Rietveld方法的内部方法，通过Rietvel德分析测定了半结晶材料的结晶度。

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用Rietveld方法进行半晶体材料的定量相分析

P.里埃罗，P.广州和G.Fagherazzi公司

提出了一种利用Rietveld细化对半晶材料进行定量分析的简单方法。该方法需要了解化学成分，但它没有任何内部标准。

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粉末衍射中的比例因子

P.里埃罗，G.法格拉齐和P.广州

提出了一种新的获得将粉末强度转换为电子单位的比例因子的方法。

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现场用于实时XRD研究的反应炉

P.里埃罗，A.劳西，J.麦克劳德，J.R.普莱西耶，G.Zerauschek先生和P.福纳西耶罗

已经设计并建造了一个反应炉，用于Elettra同步加速器源（意大利的里雅斯特）的X射线衍射光束线材料表征。该炉为毛细管中的粉末提供了一个气氛和温度可控的环境，为薄膜样品提供了一种温度受控的环境。

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非晶SiO的X射线粉末衍射定量分析₂-聚甲基丙烯酸甲酯纳米复合材料

P.里埃罗，穆纳林先生，西尔维斯特里尼，E.莫雷蒂和L.斯托拉罗

发展了一种基于X射线粉末衍射的多相非晶材料定量分析新技术。对非晶SiO证明了新方法的可行性₂-聚甲基丙烯酸甲酯杂化纳米复合材料。

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含TDS项的Al Rietveld分析

P.里埃罗，P.广州和G.法格拉齐

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