玻璃态GeO的小角度X射线散射研究2已报告。使用Kratky相机从4πsinθ/λ=0.05到2.0获得数据。SAXS强度随着与主衍射峰夹角的减小而单调下降，而氢氟酸表面处理或各种退火处理对SAXS的强度没有明显影响。最小角度散射的强度为49±2.5 e.u.molec−1外推到零角，强度对应于10的平方根密度波动−12V（V）−1/2 厘米−3/2，接近液体热力学涨落理论的预期值。一项对熔融二氧化硅的平行研究表明，均方密度波动与GeO中发现的波动相似2结果被视为与基于与互连材料显著不同的特定阵列的结构表示相反的证据。
