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Paakkari,T发现9处引文。

搜索巴卡里,T。世界结晶学家名录

结果1至9,按名称排序:


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O的电子状态2-通过测量各向同性康普顿剖面和晶体方向[100]、[110]和[111]的剖面,详细研究了MgO中的离子。理论轮廓是使用相互对称正交的局部轨道的线性组合来计算的。正交化是用“精确”聚类方法进行的。O的九种不同局域波函数2-离子被用作计算的基础。比较了实验和理论轮廓及其傅里叶变换。Pantelides,Mickish&Kunz的正交Watson+1势阱波函数和正交LCAO带函数[物理学。版本B。(1974),10,5203-5212]被发现最能描述O的离子状态2-尽管这两个函数都与实验结果不完全一致。

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讨论了中子粉末衍射绝对强度测量的优点和可能性。为了研究实验技术,镍和氨的比例因子4Cl已测定。我们发现,目前的技术足够准确,可以鼓励在这一领域进行进一步的研究。

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利用样品的荧光辐射,研究了校正样品孔隙度和表面粗糙度影响的X射线积分强度的可能性。Paakkari&Suortti最近测量的原子散射因子值的修正证明,与之前发现的自由原子值相比,似乎不存在少量的减少,或者至少与实验误差相当。

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用钼在296和77°K下测量了镍、铬、铁、钼和钨粉末样品的高阶反射积分强度辐射。经热扩散散射修正后,德拜温度分别为397±6、510±6、435±6、407±6和333±6°K。这些数值与由非弹性中子散射确定的力常数模型计算的数值一致。

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针对单斜晶体中择优取向的影响,提出了一种修正X射线粉末衍射图样的实用方法。该方法基于对称谐波来描述择优取向。为了获得无纹理的结果,必须使用旋转样品在对称透射和对称反射模式下测量衍射图案。该方法通过测量纤维素粉末样品的极点图进行测试。对结果的分析表明,通过适当地平均测量的强度,纹理的影响可以减少一个数量级。该准确度足以应用该方法,例如用于纤维素结晶度的定量测定。

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用钼对各向同性样品进行广角X射线散射实验中多次散射的贡献和铜估计了辐射。用繁琐的蒙特卡罗模拟方法计算了双散射和三散射光强的部分,并用快速近似数值积分方法计算了双重散射光强部分。对于轻元素,发现校正很重要。在非弹性散射截面较小的情况下,该近似方法对于薄样品是可靠的。在液体硫的情况下,证明了材料的分子结构对多次散射强度的影响,并发现在小散射角下有意义。将该校正方法应用于水和硫的径向原子密度函数(RDF)分析。修正改善了简化干扰函数的行为,但在这两种情况下,其对RDF的影响都很小。

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提出了一种测定晶体单色器偏振因子的新方法。该方法基于使用异常透射或博尔曼效应产生的极化X射线。两个石英(10\上划线11) Johansson型单色仪已经用铜进行了测量K(K)α辐射,并且得到的值与从运动学衍射理论导出的表达式非常一致。

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