为了将衍射仪的影响与所研究样品晶体的影响分开，导出了一个仪器函数。然后，通过仪器函数与样品反射剖面的卷积，可以计算摇摆曲线。衍射仪的分辨率是通过检查仪器功能对样品布拉格角的依赖性来实现的。离开单色器的主光束的特性由透射率描述。这种透射率构成了对衍射仪分辨率的图形理解的基础。该数学处理方法具有足够的灵活性，可适用于其他多晶体排列，并包括两种极化。此外，还讨论了衍射仪分辨率与主光束相干性之间的相关性。该公式利用仪器功能，应用于测量硅晶体的摇摆曲线，显示出理论与实验几乎完全一致。根据X射线的动态散射理论计算了所有必要的反射剖面。
