摘要

《水晶学报》。(1996).A类52,C580型

原子非均匀性对赛尔方程的影响

S.Das公司和G.B.密特拉

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位错和晶界衍射的光学模拟研究

B.K.马图尔,B.K.萨曼塔雷和G.B.密特拉

借助激光衍射仪，获得了f.c.c.和b.c.c.晶格以及晶界中边缘和螺旋位错周围原子组态模型的光学变换。所使用的模型基于其他工人的计算机模拟研究。已经观察到，倒数晶格点处的强度分裂成环形晕，或在某些情况下呈“八字形”。将分裂的方向依赖性与现有理论进行了比较。还观察到，随着晶界位错的有序化，衍射图样类似于单个位错的衍射图样。

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用方差法测定冷加工镁的粒度和应变

N.K.Misra公司和G.B.密特拉

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纯氯化钾单晶和掺杂氯化钾单晶中镶嵌块尺寸和取向错误的研究

G.B.密特拉和B.K.萨曼塔雷

利用偏振X射线测量了纯氯化钾单晶和掺杂氯化钾单晶的消光系数，并根据扎卡里亚森的实际晶体X射线衍射理论进行了分析。根据铜和钴辐射对应的消光系数，确定了镶嵌畴的大小和它们之间的错向角。已经观察到，随着掺杂量的增加，畴的尺寸减小，它们之间的错向增加。

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圆柱形结构的低角度散射

G.B.米特拉

对圆柱形管的小角度散射进行了理论研究。根据第二散射角的强度，可以确定管子的物理和化学参数。

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晶面反射的柯西分布、强度统计和相位

G.B.密特拉和S.Das公司

最近，近高斯分布在晶体学统计领域引起了极大的兴趣。在本工作中，导出了对应于偏心和中心情况的截断柯西分布的表达式。的表达式P（P）₊中心晶体的符号关系概率，以及P（P）_φ根据结构因子分量的柯西分布，导出了偏心晶体切线关系的概率。理论N个(Z)对中心和无中心Cauchy分布曲线与无中心、中心和双中心高斯分布曲线进行了比较。这个N个(Z)柯西偏心分布的曲线与高斯偏心的曲线非常接近Z= 0.5. 然后，它会向上转，并在高位超过高斯双中心曲线Z值。类似的趋势显示为N个(Z)柯西中心分布曲线在高斯中心和双中心情况之间达到近似中间后Z= 0.5. 的结果P（P）₊和P（P）_φ与一些已知的晶体数据进行了比较，结果令人满意。

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用最大似然法和最小极大法精确估计晶体参数

G.B.密特拉,R.艾哈迈德和P.达斯·古普塔

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柯西分布、强度统计和晶面反射相位

G.B.密特拉和S.Das公司

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Rietveld方法——一种替代方法

G.B.米特拉和P.达斯·古普塔

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强度统计和相位关系有效性概率

G.B.密特拉和S.Ghosh公司

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结构因子的傅里叶级数概率分布及其与其他分布的关系

G.B.密特拉和S.Das公司

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德拜特征温度作为有序参数的量度。二、。β-黄铜的应用

G.B.密特拉和A.K.乔杜里

确定有序参数的常规X射线衍射方法不能应用于α-黄铜。通过考虑德拜特征温度，而不是衍射线的强度，作为参数的测量，解决了这个问题。使用本系列论文第一部分中获得的表达式[Mitra&Chaudhuri（1974）]。《水晶学报》。A类30，385-387]，德拜特征温度α-计算了黄铜在不同订购参数下的性能。根据X射线衍射数据α-黄铜经过不同的热处理后，测定了德拜特征温度。通过比较德拜特征温度的实验值和理论值，得到了有序化参数。

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矩量法在副晶体X射线衍射线轮廓中的应用：天然纤维素纤维

G.B.密特拉和P.S.穆克吉

已确定脱木素苎麻、大麻和黄麻的“微旁晶尺寸”和“畸变参数”，假设这些材料本质上是旁晶材料，并使用X射线衍射线轮廓的第二和第四中心矩。提出了一种新的曲率校正方法。背景校正和非加性校正也被考虑在内。已经发展并描述了从独立于这两个中心矩的单个反射中确定“微微晶尺寸”和“畸变参数”的理论。根据上述工作确定了研究样品中几个方向的这两个参数。结果表明，与Hosemann和Balta Calleja的最新发现一致[Ber.公司。本森日。物理学。化学。(1980),84，91]，副晶畸变越大，“微副晶尺寸”越小。

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有限厚度完美单晶X射线衍射的偏振比

G.B.密特拉和B.K.马图尔

极化率用|cos 2表示θ|^n个，其中2θ是入射光线和衍射光线之间的角度。对于完美的单块单晶，n个通常取为等于1。对于理想的不完美晶体，n个取2。的任何其他值n个这归因于镶嵌的程度。对无限横向延伸但有限厚度的完美非吸收单晶偏振比的数值计算表明n个，而不是常数值1，可以有介于1和2之间的任何值，这取决于平板的厚度、反射面的结构因子、单位单元的体积和散射角。数值计算基于扎卡里亚森的X射线完美晶体衍射理论[Zachariasen（1945）].晶体X射线衍射理论纽约：约翰·威利。

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勘误表：由X射线衍射线轮廓的傅里叶-效率-增益阶曲线的初始斜率确定的有效粒径

G.B.密特拉和B.K.马图尔

本作者之前发表的出版物中的某些错误[Mitra&Mathur（1975），J.应用。 克里斯特.8指出并修正了X射线衍射线轮廓的傅里叶-效率-增益阶曲线初始斜率的解释。还研究了柯西应变分布对粒度测定的影响。

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X射线衍射线轮廓傅里叶-效率-增益阶曲线初始斜率的解释

G.B.米特拉和B.K.马图尔

给定阶数的纯衍射线轮廓的傅里叶系数是相同阶数组成轮廓的傅立叶系数的乘积，这些组成轮廓包括粒度、应变、堆叠和孪生断层、可变层间距、晶粒尺寸分布等晶体尺寸效应的傅里叶系数为A类^P（P）(n个) = (〈N个〉−|n个|)，其中是平均粒径，n是傅里叶系数的阶数。沃伦认为，在存在堆叠和孪生断层的情况下，零级傅里叶系数导数是颗粒大小的函数，是堆叠和双生断层概率的线性组合。这里已经表明，沃伦的计算涉及一些不需要的近似值。堆叠和孪生断层以及可变层间间距的傅里叶系数为φ型^n个，其中φ是这些故障参数的函数。应变相关傅里叶系数为exp（−n个²e（电子）²)其中e（电子）是r.m.s.应变及其导数的函数。结合所有这些，已经表明，对于所有情况

${{rm d}\ over{rm d}n}\Bigg（{A（n）\over A（0）}\Big）\Bigg|_{n=0}=-{1\over langle n\rangle}$