用系统多层方法进行了理论计算，研究了多次散射对石墨试样电镜图像性质的影响。对于在轴向照明下成像的完美无限样品，结果与简单的三光束动力学处理预测的结果非常一致。在所有情况下，当试样厚度超过50º时，弱相物体近似值被发现是无效的，即使是定性的。还对有限的晶体尺寸和各种可能的结构不完美石墨类型进行了计算。计算的图像表明，在解释结构缺陷石墨固体的实验图像时需要非常小心。特别是，在某些散焦条件下，石墨晶体中缺失层的位置可以被虚假条纹“填充”，而与嵌入物种层相对应的条纹的位置则不明确。无论多次散射的大小如何，这些特征在所有图像中都同样突出，这表明这些扰动主要是由仪器像差引起的。
