氧化铈圆棒试样的尺寸应变线软化分析

D.巴尔扎尔，N.奥德布兰德，M.R.Daymond先生，A.惠誉，A.休厄特，J.I.朗福德，A.勒贝尔，D.卢埃尔，O.马森，C.N.McCowan先生，北卡罗来纳州波帕，P.W.斯蒂芬斯和B.H.托比

本文介绍了一种氧化铈大尺寸应变圆形试样的线软化分析。使用包括同步加速器和中子源在内的七种仪器进行的测量是尺寸-应变线增强分析方法循环的基础；给出了结果并进行了讨论。

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尺寸应变循环：首次结果和测量结果的比较分析

D.巴尔扎尔，N.奥德布兰德，M.R.Daymond先生，A.惠誉，A.休厄特，J.I.朗福德，A.勒贝尔，D.百叶窗，O.马森，北卡罗来纳州波帕，P.W.斯蒂芬斯和B.托比

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Voigt函数在分析X射线衍射线展宽的单线法中的应用

H.de Keijser先生，J.I.朗福德，E.J.Mittemeijer公司和A.B.P.沃格尔

利用Voigt函数分析加宽的X射线衍射线轮廓的积分宽度，形成了一种快速而强大的单线法晶体尺寸和应变测定的基础，该方法易于应用。为了避免使用图解法或表格插值，使用了高精度的经验公式，并给出了误差估计，包括线性文件不对称性的影响。该方法应用于四种尺寸应变展宽的实际情况：（i）冷加工镍，（ii）氮化钢，（iii）电沉积镍层和（iv）液淬AlSi合金。

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衍射图案分析中的截断。一、衍射线轮廓的概念及其范围

R.德赫兹，Th.de Keijser先生，E.J.Mittemeijer公司和J.I.朗福德

在实践中，对强度测量范围的截断会引发对线轮廓概念的评估。测量的截断线轮廓可以被视为总强度分布的一部分，该总强度分布在倒置晶格点处或附近达到峰值（方法1），也可以被视为由单个倒置晶格点所限定的成分线轮廓的一部分（方法2）。这样就可以避免线-文件分析中的一些错误概念，并且可以开发出用于推断截断线剖面尾部的方法。根据第一种方法，对线条轮廓进行傅里叶分析意味着对定义在[我− ½,我+½英寸](我表示互惠空间中考虑的节点）；第二种方法意味着对在[−∞，+∞]内定义的分量线轮廓进行傅里叶变换。这两种方法都提供了尺寸展宽的准确描述，而组合尺寸和应变展宽只能在第一种方法中进行充分评估。给出了获得平均晶粒尺寸截断修正值的简单方法。

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LAPODS公司：使用最佳回归法细化晶格参数的计算机程序

C.董和J.I.朗福德

拉波德斯是程序的升级版本拉波德用于细化晶格参数。它有几个新功能，包括基于统计考虑自动确定重大系统误差。

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Cu方差的比较K（K）α和铁K（K）α谱分布

H.J.爱德华兹和J.I.朗福德

铜中X射线光谱分布的变化K（K）α多重态已被重新测定，精确度提高，范围比以前更广。该研究与Edwards&Toman关于铁辐射的研究平行，并与之进行了以下几点比较：（i）使用β-滤波器的影响，以及（ii）在K（K）α卫星群。考虑了方差的两种定义，方差-范围函数通常可以区分三个线性区域。还讨论了定义的选择以及不同线性区域在实际应用中的用途。

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剖面拟合在铁还原时间分辨研究中的应用₂哦_三

S.J.吉卜林和J.I.朗福德

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氧化铜的高分辨粉末衍射研究

J.I.朗福德和D.卢埃尔

高分辨率粉末衍射与全图案拟合技术相结合，揭示了氧化铜（II）样品的不寻常且迄今未报道的衍射效应。数据是通过传统衍射仪和严格单色铜获得的Kα₁辐射和达斯伯里实验室同步辐射源（9.1 HRPD）。研究发现，大多数谱线都有不同程度的向高角度或低角度倾斜，并且有少量谱线展宽，这主要是顺序相关的。结果表明，线轮廓不对称性在整个倒易空间中系统地变化，并且影响的大小取决于样本。未检测到明显的峰值位移，但线的倾斜与单位单元尺寸的分布一致，因此与Cu-O键长度一致。

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J.I.朗福德

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J.I.朗福德

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粉末衍射数据轮廓细化中的问题

J.I.朗福德

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傅里叶（Warren-Averach）衍射线轮廓分析中的截断校正，用于确定准确的微晶尺寸和微观应变

J.I.朗福德，R.德赫兹，H.de Keijser先生，E.J.Mittemeijer公司和D.卢埃尔

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粉末衍射中谱线展宽的变化和其他测量。一、实际考虑

J.I.朗福德

在试图根据多晶体样品中的缺陷解释X射线衍射峰展宽时，应特别注意实验技术和数据收集方法。实验条件的安排应确保在尽可能短的时间内达到最大强度，并将仪器效应保持在最低水平。特别重要的是接收狭缝的正确选择、每次反射的角度和扫描范围的增量变化。所有宽度的测量都需要了解与每条线相关的背景，并通过方差法对此进行可靠估计。同样，使用这种方法，可以计算工具效应对宽度的贡献，从而大大节省了积累和处理数据所需的时间。不正确的实验程序经常导致对衍射展宽的错误解释。总是有必要获得尽可能多的反射数据，并且需要比较不同宽度测量的结果。如果遵循了系统的实验技术，这些应该不会有明显的差异。

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高分辨率粉末衍射中仪器线轮廓的宽度和形状

J.I.朗福德，R.J.塞尼克和D.卢埃尔

Daresbury 9.1高分辨率粉末衍射仪的仪器分辨率函数已被测量为波长、狭缝宽度和样品几何形状的函数。已经证明，作为参考材料的退火氟化钡样品的尺寸和应变的影响可以忽略不计，它是研究仪器展宽的合适标准。考虑仪器线轮廓积分宽度的洛伦兹分量和高斯分量的角度依赖性的结果与接收光宽度和已知波长在入射光束中传播的预测结果非常一致。发现测量的仪器分辨率函数依赖于低角度和中等角度下的狭缝尺寸，并且主要受高角度下的角色散影响。在低角度下，线型主要为高斯型，对于扁平样品，在180°时，线型趋向于纯洛伦兹型。毛细管样品的线型在低角度和中角度下相似，在高角度下趋向于中间高斯/洛伦兹形式。

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利用模式分解研究氧化锌中微晶尺寸和层错的联合X射线衍射效应

J.I.朗福德，A.博尔蒂夫，J.P.Auffrédic和D.卢埃尔

通过X射线粉末衍射模式分解，研究了之前通过电子显微镜和吸附量热法研究过的草酸盐热分解得到的ZnO粉末的微观结构。Williamson-Hall图显示，一些谱线的展宽完全是由于微晶尺寸的影响，而其他谱线的宽度则包括层错的影响。使用球形和圆柱形模型描述微晶的形式，并提出了分离“尺寸”效应和“错误”展宽的程序。这导致了对微晶的平均尺寸和堆叠故障概率的估计。分析表明，利用大量反射的高质量数据，可以获得大量有关微观结构的详细信息。另一方面，它揭示了目前衍射线轮廓建模程序的一些局限性。

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