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为A.K.Kulshreshtha发现2处引文。
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科尔什什塔，A.K。
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《水晶学报》。
(1971).
A类
27
,
670-675
https://doi.org/10.107/S0567739471001426
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副晶X射线衍射的傅里叶系数
A.K.Kulshreshtha
和
N.E.德维尔茨
给出了傅里叶系数的理论表达式，这些系数是根据Hosemann定义的线性“理想副晶体”晶格推导出来的。
这些系数与准微晶的“配位统计”及其尺寸分布有关。
这些表达式已用于回顾早期对“Marlex 50”聚乙烯和各种石油焦热处理样品的傅里叶变换分析，并已确定这些物质具有均匀的旁晶无序。
总结和讨论了各种副晶物质的X射线衍射线谱分析的最新结果。
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J.应用。
克里斯特。
(1971).
4
,
125-130
https://doi.org/10.107/S0021889871006472
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聚合物X射线衍射剖面分析。
二、。
衍射剖面的四阶矩距函数在一阶反射分析中的意义
A.K.Kulshreshtha
,
N.R.科塔里
和
N.E.德维尔茨
根据有限晶体尺寸和II型晶格畸变的影响，导出了X射线衍射轮廓的四阶矩距函数的表达式。
还开发了一种用于测定其含量的方法，该方法在分析纤维聚合物的一级峰时很有价值。
本文介绍了一个用Fortran II为IBM 1620计算机编写的计算机程序。
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