来自含有缺陷的晶体的X射线的漫散射涉及所有晶格点的总和。这个和在收敛和截断方面存在问题。这些问题是用计算机研究的，它使用了一个简单的立方晶格模型，其中包含一个以身体为中心的间隙和一个位移场μ=C类第页/第页三根据截断参数讨论了收敛性。截断总和会产生涟漪，当考虑到任何测量施加的有限分辨率时，涟漪会被消除。截断参数和有限分辨率都决定了晶格中的距离。分辨率距离决定了截断距离的选择，这将针对高斯分辨率函数进行讨论。我们将求和公式的结果与常用的积分近似进行了比较。最后，我们发现，当缺陷产生的位移较大时，Huang散射主导尺寸效应散射，在这种情况下，距离原点最远的反射一侧的漫反射散射更强烈。
