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为杰弗里,G.A.找到124条引文。

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本文从X射线结构分析员的角度简要介绍了霍尔瑞斯穿孔卡片计算系统。描述了美国和英国设备之间的主要区别,并解释了常用的技术术语。

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本文描述了利用霍尔瑞斯设备对最近一些晶体结构分析中使用的三维差分合成进行的评估。该方法可以通过修正“级数终止”误差来确定电子密度分布中最大值的精确位置。它还可以用于最小二乘法和最速下降法的计算。

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硫代磷酸酯的分子结构6H(H)4S公司2,已经通过X射线分析、使用傅立叶三维合成和差分合成来确定。对“系列终止”错误进行了更正,发现这些错误在该结构中很重要。中心对称分子中的键长为C1-C类2=1.36安培。,C2-C类=1.41安培。,C-C类'=1.36 A。,C1-S=1.72 A。,C'-S=1.74安。根据差分合成给出的信息,尝试对这些值的准确性进行统计分析。这些结果与噻吩的分子轨道计算以及噻吩本身的类似初步计算有关。虽然大体上一致,但在分子的C-S键和中心C-C键的长度方面,理论和实验之间似乎存在重大差异。有人建议,只有对后者而言,才必须在完善理论处理的过程中寻求和解;虽然可以用同样的方法解释C-S差异,但也有可能通过修改C-S键序/长度关系来部分或全部消除这种差异,目前对这种关系的了解还不够。

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