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为哈贝尔J.H.找到了4条引文。

哈贝尔·J·克利克有4篇文章在这里来看看这些。

搜索哈贝尔,J.H。世界水晶学家名录

结果1到4,按名称排序:


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介绍了国际晶体学衰减项目联合会(International Union of Crystallography attenuation Project)参与者对单晶硅样品进行的能量范围为8-60 keV的X射线衰减系数测量。使用八种不同实验配置的十二个实验室提供了分析数据。对使用不同技术在晶体学家感兴趣的特征波长下进行的测量进行了比较。将这些测量结果与现有的理论散射截面进行比较表明,在计算理论总散射截面时,使用热扩散散射截面代替瑞利散射截面的模型与实验值更加吻合。没有找到任何依据来优先选择光电吸收截面的三个当前理论表格中的一个。

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报告了参与国际结晶联合会X射线衰减项目的实验室对碳的质量衰减系数进行的测量。早些时候,一项使用硅的类似研究得出的数据发表了[Creagh&Hubbell(1987)]。《水晶学报》。A类43, 102-112]. 在能量范围为6至60keV的情况下,数据在很大程度上是自洽的,为0.5%,并且与早期的实验数据吻合良好。这些数据比理论计算的数据少约3%[Soloman&Hubbell(1986)。X射线衰减系数(总横截面).实验数据库与Henke推荐值和Scofield理论值的比较0.1至100千伏。NBSIR 86-3431报告。美国商务部,国家统计局,马里兰州盖瑟斯堡,美国;Berger&Hubbell(1987)。XCOM公司。个人计算机上的光子横截面。报告NBSIR 87-3597。美国商务部,马里兰州盖瑟斯堡]对其进行测量的能量范围。因此,碳似乎是斯科菲尔德(Scofield)光效应计算的重整化(总是减少)的一个例子[Scofield(1973)。报告UCRL-51236。劳伦斯·利弗莫尔实验室,美国加利福尼亚州利弗莫尔市],由哈贝尔实施[国际期刊申请。辐射。同位素。(1982),33,1269-1290],将提高与测量数据的一致性。

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《水晶学报》。(1981年)。A类37,第121号
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