将斯坦福储存环采用平行束多晶几何形状的结果与传统X射线管聚焦进行了比较。PC自动化仪器包括一对垂直扫描衍射仪，用于使用Si（111）通道单色仪进行波长选择，以及用于在反射或透射中测量粉末样品。描述了强度、轮廓形状、宽度和位置对仪器参数的依赖性。具有选定接收狭缝的结晶良好样品的图案中的所有轮廓都是对称的，并且主要是高斯的，具有几乎相同的宽度，从而大大简化了轮廓拟合和轮廓加宽解释的算法和程序。简单的波长选择允许使用比样品中元素的吸收边缘略长的波长来获得最大值P（P）/B类比率和短波允许访问非常高的香港特别行政区s.由于缺少K（K）α偶极子和简单对称轮廓形状的分辨率不需要像在聚焦几何中那样好，就可以实现类似的重叠分离。晶格参数测定的平均精度为Δd/d日= 5.6 × 10−5使用前向反射。
